发明授权
- 专利标题： Measurement circuit utilizing a low TCR thick film sense resistor
- 专利标题（中）： 采用低TCR厚膜检测电阻的测量电路
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申请号： US972334申请日： 1992-11-06
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公开(公告)号： US5341119A公开(公告)日： 1994-08-23
- 发明人: Carl W. Berlin , Dwadasi H. R. Sarma
- 申请人： Carl W. Berlin , Dwadasi H. R. Sarma
- 申请人地址： IN Kokomo
- 专利权人： Delco Electronics Corporation
- 当前专利权人： Delco Electronics Corporation
- 当前专利权人地址： IN Kokomo
- 主分类号： C03C8/10
- IPC分类号： C03C8/10 ; C03C8/18 ; H01C7/00 ; H01C17/065 ; H01C8/00
摘要：
A measurement circuit utilizing a thick film sense resistor containing palladium and silver in a weight ratio of about 56/44 to about 60/40 and a specific glass frit composition so that the sense resistor achieves low resistivity and controlled TCR.
公开/授权文献
- US5961303A Positive displacement dispensing pump system 公开/授权日：1999-10-05
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