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US5528649A Method of calibrating a radiological system and of measuring the equivalent thickness of an object 失效
校准放射学系统和测量物体的等效厚度的方法

  • 专利标题： Method of calibrating a radiological system and of measuring the equivalent thickness of an object
  • 专利标题（中）： 校准放射学系统和测量物体的等效厚度的方法
  • 申请号： US979471
    申请日： 1992-11-20
  • 公开(公告)号： US5528649A
    公开(公告)日： 1996-06-18
  • 发明人: Robert Heidsieck
  • 申请人： Robert Heidsieck
  • 申请人地址： FRX Issy les Molineaux
  • 专利权人： General Electric CGR SA
  • 当前专利权人： General Electric CGR SA
  • 当前专利权人地址： FRX Issy les Molineaux
  • 优先权： FRX8907686 19890609
  • 主分类号： A61B6/00
  • IPC分类号： A61B6/00 ;  G01N23/08 ;  G01N23/06
Method of calibrating a radiological system and of measuring the equivalent thickness of an object
摘要：
The calibration method consists in measuring the efficiency D of a detector cell placed behind the object as a function of various phantom thicknesses E.sub.p and various X-ray tube supply voltages V.sub.m. These measurements enable an analytic model D=f(V.sub.m, E.sub.p) to be determined describing the resulting curves. The inverse function of this analytic model can be used for calculating thickness E.sub.p as a function of the measured efficiency D and the known supply voltage V.sub.m.
摘要（中）：

该校准方法在于测量放置在物体后面的检测器单元的效率D作为各种幻影厚度Ep和各种X射线管供应电压Vm的函数。 这些测量使得可以确定描述所得曲线的分析模型D = f（Vm，Ep）。 该分析模型的逆函数可用于计算厚度Ep作为测量效率D和已知电源电压Vm的函数。

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