发明授权
- 专利标题： Non-invasive, low pin count test circuits and methods
- 专利标题（中）： 非侵入性，低引脚数测试电路和方法
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申请号： US10027187申请日： 2001-12-20
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公开(公告)号： US06937046B1公开(公告)日： 2005-08-30
- 发明人: Murari Kejariwal , Prasad Ammisetti , Axel Thomsen , John Laurence Melanson
- 申请人： Murari Kejariwal , Prasad Ammisetti , Axel Thomsen , John Laurence Melanson
- 申请人地址： US TX Austin
- 专利权人： Cirrus Logic, Inc.
- 当前专利权人： Cirrus Logic, Inc.
- 当前专利权人地址： US TX Austin
- 代理机构： Thompson & Knight LLP
- 代理商 James J. Murphy
- 主分类号： G01R31/28
- IPC分类号： G01R31/28 ; G01R31/02
摘要：
A method of testing an integrated circuit including the steps of observing a selected parameter at a selected test mode to detect an error. The current to the integrated circuit is stepped from a reference level by selected amount.