Memory cell array

发明授权

标题翻译：存储单元阵列

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专利标题： Memory cell array
专利标题（中）： 存储单元阵列
申请号： US10713689

申请日： 2003-11-14
公开(公告)号： US06940123B2

公开(公告)日： 2005-09-06
发明人: Christoph Ludwig
申请人： Christoph Ludwig
申请人地址： DE Munich
专利权人： Infineon Technologies AG
当前专利权人： Infineon Technologies AG
当前专利权人地址： DE Munich
代理商 Laurence A. Greenberg; Werner H. Stemer; Ralph E. Locher
优先权： DE10253164 20021114
主分类号： H01L21/8246
IPC分类号： H01L21/8246 ; H01L21/8247 ; H01L29/788

摘要：

In a matrix-shaped configuration of memory transistors, word lines are disposed on a top side of a semiconductor body and are parallel to one another. Bit lines run transversely with respect thereto and are formed by polysilicon strips which are applied on the top side and are isolated from the semiconductor body by barrier layers functioning as diffusion barriers.

摘要（中）：

在存储晶体管的矩阵状配置中，字线被布置在半导体本体的顶侧并且彼此平行。位线相对于其横向延伸，并且由施加在顶侧上的多晶硅条形成，并且通过用作扩散阻挡层的阻挡层与半导体本体隔离。

公开/授权文献

US20040099901A1 Memory cell array 公开/授权日：2004-05-27

信息查询

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IPC分类:

H	电学
H01	基本电气元件
H01L	半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件（使用半导体器件的测量入G01；一般电阻器入H01C；磁体、电感器、变压器入H01F；一般电容器入H01G；电解型器件入H01G9/00；电池组、蓄电池入H01M；波导管、谐振器或波导型线路入H01P；线路连接器、汇流器入H01R；受激发射器件入H01S；机电谐振器入H03H；扬声器、送话器、留声机拾音器或类似的声机电传感器入H04R；一般电光源入H05B；印刷电路、混合电路、电设备的外壳或结构零部件、电气元件的组件的制造入H05K；在具有特殊应用的电路中使用的半导体器件见应用相关的小类）
H01L21/00	专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/70	.由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造（由预制电组件组成的组装件的制造入H05K3/00，H05K13/00）
H01L21/77	..在公共衬底中或上面形成的由许多固态元件或集成电路组成的器件的制造或处理（电可编程只读存储器或其多步骤的制造方法入H01L27/115）
H01L21/78	...把衬底连续地分成多个独立的器件（改变表面物理特性或者半导体形状的切割入H01L21/304）
H01L21/82	....制造器件，例如每一个由许多元件组成的集成电路
H01L21/822	.....衬底是采用硅工艺的半导体的（H01L21/8258优先）
H01L21/8232	......场效应工艺
H01L21/8234	.......MIS工艺
H01L21/8239	........存储器结构
H01L21/8246	.........只读存储器结构（ROM）