发明授权
- 专利标题： Method and apparatus for rapid tomographic measurements of the electrical conductivity distribution of a sample
- 专利标题（中）： 用于快速层析成像测量样品电导率分布的方法和装置
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申请号： US10647095申请日： 2003-08-22
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公开(公告)号： US06943553B2公开(公告)日： 2005-09-13
- 发明人: Egon Zimmermann , Walter Glaas , Arre Verweerd , Axel Tillmann , Andreas Kemna
- 申请人： Egon Zimmermann , Walter Glaas , Arre Verweerd , Axel Tillmann , Andreas Kemna
- 申请人地址： DE Julich
- 专利权人： Forschungszentrum Julich GmbH
- 当前专利权人： Forschungszentrum Julich GmbH
- 当前专利权人地址： DE Julich
- 代理商 Herbert Dubno
- 优先权： DE10238824 20020823
- 主分类号： G01N27/20
- IPC分类号： G01N27/20 ; G01V3/06 ; G01V3/04
摘要：
A method and apparatus for the rapid tomographic measurement of conductivity distribution in a sample in which current excitations or voltage excitation is applied to the sample via electrodes or the like and potential differences or magnetic field strengths association with those excitation fields are measured and analyzed, e.g. by a Fourier analysis.
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