发明授权
- 专利标题： Embedded integrated circuit aging sensor system
- 专利标题（中）： 嵌入式集成电路老化传感器系统
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申请号： US10349854申请日： 2003-01-23
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公开(公告)号： US07054787B2公开(公告)日： 2006-05-30
- 发明人: Claude R. Gauthier , Pradeep R. Trivedi , Gin S. Yee
- 申请人： Claude R. Gauthier , Pradeep R. Trivedi , Gin S. Yee
- 申请人地址： US CA Santa Clara
- 专利权人： Sun Microsystems, Inc.
- 当前专利权人： Sun Microsystems, Inc.
- 当前专利权人地址： US CA Santa Clara
- 代理机构： Osha Liang LLP
- 主分类号： G06F11/00
- IPC分类号： G06F11/00
摘要：
A method and apparatus for sensing an aging effect on an integrated circuit using a sensor disposed on the integrated circuit and arranged to generate an output dependent on a condition of an element within the sensor. A processor operatively connected to the sensor is arranged to indicate a code dependent the output.
公开/授权文献
- US20040148111A1 Embedded integrated circuit aging sensor System 公开/授权日：2004-07-29
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