发明授权
- 专利标题： Static analysis to identify defects in grammars
- 专利标题（中）： 静态分析来识别语法中的缺陷
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申请号： US11151576申请日： 2005-06-13
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公开(公告)号： US07711551B2公开(公告)日： 2010-05-04
- 发明人: Ricardo Lopez-Barquilla , Craig Campbell
- 申请人： Ricardo Lopez-Barquilla , Craig Campbell
- 申请人地址： US WA Redmond
- 专利权人： Microsoft Corporation
- 当前专利权人： Microsoft Corporation
- 当前专利权人地址： US WA Redmond
- 代理机构： Westman, Champlin & Kelly, P.A.
- 代理商 Joseph R. Kelly
- 主分类号： G06F17/27
- IPC分类号： G06F17/27 ; G10L11/00 ; G10L21/00
摘要：
The present invention provides static analysis of speech grammars prior to the speech grammars being deployed in a speech system.
公开/授权文献
- US20060282267A1 Static analysis to identify defects in grammars 公开/授权日：2006-12-14
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