发明授权
- 专利标题： Methods and apparatus for BIS correction
- 专利标题（中）： BIS校正的方法和装置
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申请号： US11442450申请日： 2006-05-26
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公开(公告)号： US07747057B2公开(公告)日： 2010-06-29
- 发明人: Xiaoye Wu , Paavana Sainath , Thomas Louis Toth , Thomas John Myers , Mary Sue Kulpins , Xiangyang Tang , Roy-Arnulf Helge Nilsen
- 申请人： Xiaoye Wu , Paavana Sainath , Thomas Louis Toth , Thomas John Myers , Mary Sue Kulpins , Xiangyang Tang , Roy-Arnulf Helge Nilsen
- 申请人地址： US NY Schenectady
- 专利权人： General Electric Company
- 当前专利权人： General Electric Company
- 当前专利权人地址： US NY Schenectady
- 代理机构： ZPS Group, SC
- 主分类号： G06K9/00
- IPC分类号： G06K9/00 ; G01N23/00
摘要：
A method for performing BIS correction includes scanning an object with a computed tomography (CT) system to obtain data, reconstructing an image using the obtained data, and using the image to perform BIS correction.
公开/授权文献
- US20070274581A1 Methods and apparatus for BIS correction 公开/授权日：2007-11-29
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