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发明授权
US07864430B2 Modified Michelson delay line interferometer 有权
改进的迈克尔逊延迟线干涉仪

  • 专利标题： Modified Michelson delay line interferometer
  • 专利标题（中）： 改进的迈克尔逊延迟线干涉仪
  • 申请号： US12174628
    申请日： 2008-07-16
  • 公开(公告)号： US07864430B2
    公开(公告)日： 2011-01-04
  • 发明人: Yung-Chieh Hsieh
  • 申请人： Yung-Chieh Hsieh
  • 申请人地址： US CA Fremont
  • 专利权人： Optoplex Corporation
  • 当前专利权人： Optoplex Corporation
  • 当前专利权人地址： US CA Fremont
  • 代理商 Antonio R. Durando; John P. Wooldridge
  • 主分类号： G02B27/14
  • IPC分类号： G02B27/14 ;  H04B10/06
Modified Michelson delay line interferometer
摘要：
In an optical etalon with a fixed FSR determined by the cavity length, the time delay is adjusted by an etalon surface coating. The proper cavity length is chosen to achieve a desired FSR, and the coating is independently selected to obtain a desired time delay.
摘要（中）：

在具有通过腔长度确定的固定FSR的光学标准具中，通过标准具表面涂层来调整时间延迟。 选择适当的腔长以获得期望的FSR，并且独立地选择涂层以获得期望的时间延迟。

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