发明授权
US07955992B2 Method of passivating and encapsulating CdTe and CZT segmented detectors
有权
钝化和封装CdTe和CZT分段检测器的方法
- 专利标题： Method of passivating and encapsulating CdTe and CZT segmented detectors
- 专利标题（中）： 钝化和封装CdTe和CZT分段检测器的方法
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申请号： US12188501申请日： 2008-08-08
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公开(公告)号： US07955992B2公开(公告)日： 2011-06-07
- 发明人: Henry Chen , Pinghe Lu , Salah Awadalla
- 申请人： Henry Chen , Pinghe Lu , Salah Awadalla
- 申请人地址： CA Saanichton, BC
- 专利权人： Redlen Technologies, Inc.
- 当前专利权人： Redlen Technologies, Inc.
- 当前专利权人地址： CA Saanichton, BC
- 代理机构： The Marbury Law Group, PLLC
- 主分类号： H01L21/00
- IPC分类号： H01L21/00
摘要：
A method of forming a passivation layer comprises contacting at least one surface of a wide band-gap semiconductor material with a passivating agent comprising an alkali hypochloride to form the passivation layer on said at least one surface. The passivation layer may be encapsulated with a layer of encapsulation material.
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