发明授权
- 专利标题： X-ray detection methods and apparatus
- 专利标题（中）： X射线检测方法和装置
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申请号： US11523359申请日： 2006-09-19
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公开(公告)号： US07974377B2公开(公告)日： 2011-07-05
- 发明人: David Michael Hoffman , Jeffrey Alan Kautzer
- 申请人： David Michael Hoffman , Jeffrey Alan Kautzer
- 申请人地址： US NY Schenectady
- 专利权人： General Electric Company
- 当前专利权人： General Electric Company
- 当前专利权人地址： US NY Schenectady
- 代理机构： Ziolkowski Patent Solutions Group, SC
- 主分类号： A61B6/00
- IPC分类号： A61B6/00
摘要：
A method includes inserting a first x-ray detector between a second x-ray detector and an object.
公开/授权文献
- US20080069298A1 X-ray detection methods and apparatus 公开/授权日：2008-03-20
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