发明授权
- 专利标题： Methods and apparatus for data analysis
- 专利标题（中）： 数据分析方法和装置
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申请号： US11692021申请日： 2007-03-27
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公开(公告)号： US08041541B2公开(公告)日： 2011-10-18
- 发明人: Paul M. Buxton , Eric Paul Tabor , Emilio Miguelanez Martin , Ali M. S. Zalzala
- 申请人： Paul M. Buxton , Eric Paul Tabor , Emilio Miguelanez Martin , Ali M. S. Zalzala
- 申请人地址： US AZ Tempe
- 专利权人： Test Advantage, Inc.
- 当前专利权人： Test Advantage, Inc.
- 当前专利权人地址： US AZ Tempe
- 代理机构： The Noblitt Group, PLLC
- 主分类号： G06F15/00
- IPC分类号： G06F15/00
摘要：
A method and apparatus for data analysis according to various aspects of the present invention is configured to automatically identify a characteristic of a fabrication process for components based on test data for the components.
公开/授权文献
- US20080021677A1 METHODS AND APPARATUS FOR DATA ANALYSIS 公开/授权日：2008-01-24
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