Nitride semiconductor device

发明授权

US08390030B2 Nitride semiconductor device 有权

标题翻译：氮化物半导体器件

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专利标题： Nitride semiconductor device
专利标题（中）： 氮化物半导体器件
申请号： US12104818

申请日： 2008-04-17
公开(公告)号： US08390030B2

公开(公告)日： 2013-03-05
发明人: Wataru Saito , Hidetoshi Fujimoto , Takao Noda , Yasunobu Saito , Tomohiro Nitta
申请人： Wataru Saito , Hidetoshi Fujimoto , Takao Noda , Yasunobu Saito , Tomohiro Nitta
申请人地址： JP Tokyo
专利权人： Kabushiki Kaisha Toshiba
当前专利权人： Kabushiki Kaisha Toshiba
当前专利权人地址： JP Tokyo
代理机构： Oblon, Spivak, McClelland, Maier & Neustadt, L.L.P.
优先权： JP2007-121352 20070502
主分类号： H01L29/778
IPC分类号： H01L29/778

摘要：

A semiconductor device includes: a first semiconductor layer made of an AlxGa1−xN (0≦×

摘要（中）：

半导体器件包括：由Al x Ga 1-x N（0＆lt; n 1; x 1）制成的第一半导体层; 由第一半导体层提供并由未掺杂或第一导电类型的Al y Ga 1-y N（0

公开/授权文献

US20080277692A1 SEMICONDUCTOR DEVICE 公开/授权日：2008-11-13

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IPC分类:

H	电学
H01	基本电气元件
H01L	半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件（使用半导体器件的测量入G01；一般电阻器入H01C；磁体、电感器、变压器入H01F；一般电容器入H01G；电解型器件入H01G9/00；电池组、蓄电池入H01M；波导管、谐振器或波导型线路入H01P；线路连接器、汇流器入H01R；受激发射器件入H01S；机电谐振器入H03H；扬声器、送话器、留声机拾音器或类似的声机电传感器入H04R；一般电光源入H05B；印刷电路、混合电路、电设备的外壳或结构零部件、电气元件的组件的制造入H05K；在具有特殊应用的电路中使用的半导体器件见应用相关的小类）
H01L29/00	专门适用于整流、放大、振荡或切换，并具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的半导体器件；具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒，例如PN结耗尽层或载流子集结层的电容器或电阻器；半导体本体或其电极的零部件（H01L31/00至H01L47/00，H01L51/05优先；除半导体或其电极之外的零部件入H01L23/00；由在一个共用衬底内或其上形成的多个固态组件组成的器件入H01L27/00）
H01L29/66	.按半导体器件的类型区分的
H01L29/68	..只能通过对一个不通有待整流、放大或切换的电流的电极供给电流或施加电位方可进行控制的（H01L29/96优先）
H01L29/76	...单极器件
H01L29/772	....场效应晶体管
H01L29/778	.....带有二维载流子气沟道的，如HEMT