Microelectronic device

发明授权

US08686412B2 Microelectronic device 有权

标题翻译：微电子器件

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专利标题： Microelectronic device
专利标题（中）： 微电子器件
申请号： US11888072

申请日： 2007-07-31
公开(公告)号： US08686412B2

公开(公告)日： 2014-04-01
发明人: Gregory Herman , Benjamin Clark , Zhizhang Chen
申请人： Gregory Herman , Benjamin Clark , Zhizhang Chen
申请人地址： US TX Houston
专利权人： Hewlett-Packard Development Company, L.P.
当前专利权人： Hewlett-Packard Development Company, L.P.
当前专利权人地址： US TX Houston
主分类号： H01L29/10
IPC分类号： H01L29/10 ; H01L29/12

摘要：

A microelectronic device includes a thin film transistor having an oxide semiconductor channel and an organic polymer passivation layer formed on the oxide semiconductor channel.

摘要（中）：

微电子器件包括具有形成在氧化物半导体沟道上的氧化物半导体沟道和有机聚合物钝化层的薄膜晶体管。

公开/授权文献

US20090032812A1 Microelectronic device 公开/授权日：2009-02-05

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IPC分类:

H	电学
H01	基本电气元件
H01L	半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件（使用半导体器件的测量入G01；一般电阻器入H01C；磁体、电感器、变压器入H01F；一般电容器入H01G；电解型器件入H01G9/00；电池组、蓄电池入H01M；波导管、谐振器或波导型线路入H01P；线路连接器、汇流器入H01R；受激发射器件入H01S；机电谐振器入H03H；扬声器、送话器、留声机拾音器或类似的声机电传感器入H04R；一般电光源入H05B；印刷电路、混合电路、电设备的外壳或结构零部件、电气元件的组件的制造入H05K；在具有特殊应用的电路中使用的半导体器件见应用相关的小类）
H01L29/00	专门适用于整流、放大、振荡或切换，并具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的半导体器件；具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒，例如PN结耗尽层或载流子集结层的电容器或电阻器；半导体本体或其电极的零部件（H01L31/00至H01L47/00，H01L51/05优先；除半导体或其电极之外的零部件入H01L23/00；由在一个共用衬底内或其上形成的多个固态组件组成的器件入H01L27/00）
H01L29/02	.按其半导体本体的特征区分的
H01L29/06	..按其形状区分的；按各半导体区域的形状、相对尺寸或配置区分的
H01L29/10	...具有连接到1个不通有待整流、放大或切换的电流的电极上去的半导体区域的；并且这样的电极又是包含3个或更多个电极的半导体器件的组成部分的