- 专利标题： Meter for an integrated diagnostic test system
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申请号： US29206526申请日： 2004-06-02
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公开(公告)号： USD507657S1公开(公告)日： 2005-07-19
- 设计人: Gary T. Neel , Allan Javier Caban
- 申请人： Gary T. Neel , Allan Javier Caban
- 申请人地址： US FL Fort Lauderdale
- 专利权人： Home Diagnostics, Inc.
- 当前专利权人： Home Diagnostics, Inc.
- 当前专利权人地址： US FL Fort Lauderdale
- 代理机构： Finnegan, Henderson, Farabow, Garrett & Dunner, L.L.P.
- LOC分类号： 24-01
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