外观设计
- 专利标题： Refractometer
- 专利标题（中）： 折射仪
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申请号： US29234936申请日： 2005-07-25
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公开(公告)号： USD554549S1公开(公告)日： 2007-11-06
- 设计人: Hideyuki Amamiya , Yasuhiko Amagasa , Takeshi Kubodera
- 申请人： Hideyuki Amamiya , Yasuhiko Amagasa , Takeshi Kubodera
- 申请人地址： JP Tokyo
- 专利权人： ATAGO Co, Ltd.
- 当前专利权人： ATAGO Co, Ltd.
- 当前专利权人地址： JP Tokyo
- 代理机构： McAndrews, Held & Malloy, Ltd.
- 优先权： JP2005-002494 20050131
- LOC分类号： 10-04
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