外观设计
- 专利标题： Surface-roughness measuring probe
- 专利标题（中）： 表面粗糙度测量探头
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申请号： US29407200申请日： 2011-11-23
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公开(公告)号： USD678787S1公开(公告)日： 2013-03-26
- 设计人: Sadayuki Matsumiya , Kotaro Hirano , Shigeru Ohtani , Kenji Iwamoto
- 申请人： Sadayuki Matsumiya , Kotaro Hirano , Shigeru Ohtani , Kenji Iwamoto
- 申请人地址： JP Kawasaki-Shi
- 专利权人： Mitutoyo Corporation
- 当前专利权人： Mitutoyo Corporation
- 当前专利权人地址： JP Kawasaki-Shi
- 代理机构： Oliff & Berridge, PLC
- 优先权： JP2011-022070 20110927
- LOC分类号： 10-04
