外观设计
- 专利标题： Component analyzer
- 专利标题（中）： 元件分析仪
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申请号： US29409008申请日： 2011-12-20
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公开(公告)号： USD708530S1公开(公告)日： 2014-07-08
- 设计人: Hiroyuki Noda , Mitsuru Oonuma , Yoko Sato , Kouji Ishiguro , Hidetoshi Morokuma
- 申请人： Hiroyuki Noda , Mitsuru Oonuma , Yoko Sato , Kouji Ishiguro , Hidetoshi Morokuma
- 申请人地址： JP Tokyo
- 专利权人： Hitachi High-Technologies Corporation
- 当前专利权人： Hitachi High-Technologies Corporation
- 当前专利权人地址： JP Tokyo
- 代理机构： Antonelli, Tarry, Stout & Kraus, LLP.
- 优先权： JP2011-014912 20110630
- LOC分类号： 10-04
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