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WO2007013467A1 機器管理方法、その機器管理方法に用いる分析システム、及び、分析用データ構造、その機器管理方法に用いる保守点検支援装置
审中-公开
设备管理方法，用于设备管理方法的分析系统，用于设备管理方法的分析数据结构和维护检查支持设备
- Patent Title: 機器管理方法、その機器管理方法に用いる分析システム、及び、分析用データ構造、その機器管理方法に用いる保守点検支援装置
- Patent Title (English): Device management method, analysis system used for the device management method, analysis data structure, and maintenance inspection support device used for the device management method
- Patent Title (中): 设备管理方法，用于设备管理方法的分析系统，用于设备管理方法的分析数据结构和维护检查支持设备
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Application No.: PCT/JP2006/314691Application Date: 2006-07-25
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Publication No.: WO2007013467A1Publication Date: 2007-02-01
- Inventor: 藤原良康 , 小田和則
- Applicant: 株式会社テイエルブイ , 藤原良康 , 小田和則
- Applicant Address: 〒6758511 兵庫県加古川市野口町長砂881番地 Hyogo JP
- Assignee: 株式会社テイエルブイ,藤原良康,小田和則
- Current Assignee: 株式会社テイエルブイ,藤原良康,小田和則
- Current Assignee Address: 〒6758511 兵庫県加古川市野口町長砂８８１番地 Hyogo JP
- Agency: 北村修一郎
- Priority: JP2005-214646 20050725; JP2005-216145 20050726; JP2005-217353 20050727
- Main IPC: G07C3/08
- IPC: G07C3/08 ; F16T1/48
Abstract:
多数の管理対象機器の使用状況の良否や不良原因などを正確かつ効率的に分析できるようにする。 多数の管理対象機器Ｔの全数について各機器が正常か不良かを診断する全数診断を定期的に実施し、各回の全数診断ごとに、診断結果Ｉｃを記録するとともに、不良な機器があったときには、その不良な機器を交換又は修理し、複数回にわたる全数診断の診断結果Ｉｃに基づき、管理対象機器Ｔの各々についての不良発生頻度Ｎを示す分析用データＧ，Ｅを作成する。
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