Invention Application
- Patent Title: VERFAHREN ZUM MESSEN DER DICKE VON EHRSCHICHTFOLIEN
- Patent Title (English): Method for measuring the thickness of multi-layer films
- Patent Title (中): 法测量EHRSCHICHTFOLIEN的厚度
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Application No.: PCT/EP2006/009786Application Date: 2006-10-02
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Publication No.: WO2007048499A1Publication Date: 2007-05-03
- Inventor: KELLER, Albert , HÄNGGLI, Markus , WEBER, Philipp , STUKER, Peter
- Applicant: HCH.KÜNDIG & CIE. AG , KELLER, Albert , HÄNGGLI, Markus , WEBER, Philipp , STUKER, Peter
- Applicant Address: Joweid Zentrum 11, CH-8630 Rüti CH
- Assignee: HCH.KÜNDIG & CIE. AG,KELLER, Albert,HÄNGGLI, Markus,WEBER, Philipp,STUKER, Peter
- Current Assignee: HCH.KÜNDIG & CIE. AG,KELLER, Albert,HÄNGGLI, Markus,WEBER, Philipp,STUKER, Peter
- Current Assignee Address: Joweid Zentrum 11, CH-8630 Rüti CH
- Agency: HAMMER, Bruno
- Priority: EP05405613.0 20051028; EP05405697.3 20051214
- Main IPC: G01B7/06
- IPC: G01B7/06 ; B29C47/92
Abstract:
Bei dem Verfahren zum Bestimmen der Dicke von Mehrschichtfolien (13) mit Schichten aus verschiedenen nichtleitenden Werkstoffen wird die Dicke der Mehrschichtfolie (13) mit einem ersten Sensor (17) und einem zweiten Sensor (16) und eventuell weiteren Sensoren gemessen, wobei alle moglichst amgleichen Ort unter gleichen Bedingungen messen. Der erste Sensor (17) und der oder die weiteren Sensoren (16) erzeugen fur Schichten gleicher Dicke aus gleichem Werkstoff der Mehrschichtfolie (13) unterschiedliche Messwerte. Die Messsignale der Sensoren (16, 17) werden einem Rechner (18) zugefËhrt, der aus den unterschiedlichen Messwerten des ersten Sensors (17) und des oder der weiteren Sensoren (16) die gesamte Dicke der Mehrschichtfolie (13) und/oder die Dicke einzelner Schichten der Mehrschichtfolie (13) bestimmt.
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