Invention Application
- Patent Title: 走査プローブ顕微鏡装置
- Patent Title (English): Scanning probe microscope
- Patent Title (中): 扫描探针显微镜
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Application No.: PCT/JP2007/064237Application Date: 2007-07-19
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Publication No.: WO2008015916A1Publication Date: 2008-02-07
- Inventor: 小林 大 , 西田 周平 , 川勝 英樹
- Applicant: 独立行政法人科学技術振興機構 , 小林 大 , 西田 周平 , 川勝 英樹
- Applicant Address: 〒3320012 埼玉県川口市本町四丁目1番8号 Saitama JP
- Assignee: 独立行政法人科学技術振興機構,小林 大,西田 周平,川勝 英樹
- Current Assignee: 独立行政法人科学技術振興機構,小林 大,西田 周平,川勝 英樹
- Current Assignee Address: 〒3320012 埼玉県川口市本町四丁目1番8号 Saitama JP
- Agency: 清水 守
- Priority: JP2006-207297 20060731
- Main IPC: G01N13/16
- IPC: G01N13/16
Abstract:
FMモードの走査プローブ顕微鏡のカンチレバーが、機械的Q値が低い環境においても安定に振動し、かつ、カンチレバーとサンプルの相互作用に対して高い感度を持つ走査プローブ顕微鏡装置を提供する。 カンチレバー(4)の共振周波数に近い周波数を持つ駆動信号を信号発生器(9)から振動励起手段(10)に供給し、カンチレバー(4)を他励振動(強制振動)させる。振動検出手段(5)によって検出されたカンチレバー(4)の振動と前記駆動信号との位相差がゼロになるように、即ち前記駆動信号とカンチレバー(4)の共振周波数が一致するように、(1)前記駆動信号の周波数、または、(2)カンチレバーの共振周波数を(カンチレバー(4)とサンプル(1)の距離を調整することによって)制御する。
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