Invention Application
- Patent Title: 超音波探触子、および超音波診断装置
- Patent Title (English): Ultrasonic probe and ultrasonic diagnostic device
- Patent Title (中): 超声探头和超声诊断装置
-
Application No.: PCT/JP2010/051688Application Date: 2010-02-05
-
Publication No.: WO2010092908A1Publication Date: 2010-08-19
- Inventor: 石代 宏
- Applicant: コニカミノルタエムジー株式会社 , 石代 宏
- Applicant Address: 〒1918511 東京都日野市さくら町1番地 Tokyo JP
- Assignee: コニカミノルタエムジー株式会社,石代 宏
- Current Assignee: コニカミノルタエムジー株式会社,石代 宏
- Current Assignee Address: 〒1918511 東京都日野市さくら町１番地 Tokyo JP
- Priority: JP2009-031062 20090213
- Main IPC: H04R17/00
- IPC: H04R17/00 ; A61B8/00
Abstract:
受信素子層の両面に形成された電極をそれぞれ挟む上層および下層は、それぞれエレベーション方向に受信素子層より突出した突出部を備え、受信素子層に形成された電極のうち少なくとも一方は、突出部の上層または下層と対向する面に延長して形成されていることを特徴とする超音波探触子。
Information query
