Invention Application
- Patent Title: シリコン酸化膜の形成方法、及びプラズマ酸化処理装置
- Patent Title (English): Silicon oxide film forming method, and plasma oxidation apparatus
- Patent Title (中): 硅氧烷膜成型方法和等离子体氧化装置
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Application No.: PCT/JP2011/055482Application Date: 2011-03-09
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Publication No.: WO2011114961A1Publication Date: 2011-09-22
- Inventor: 壁 義郎 , 大田尾 修一郎 , 佐藤 吉宏
- Applicant: 東京エレクトロン株式会社 , 壁 義郎 , 大田尾 修一郎 , 佐藤 吉宏
- Applicant Address: 〒1076325 東京都港区赤坂五丁目3番1号 Tokyo JP
- Assignee: 東京エレクトロン株式会社,壁 義郎,大田尾 修一郎,佐藤 吉宏
- Current Assignee: 東京エレクトロン株式会社,壁 義郎,大田尾 修一郎,佐藤 吉宏
- Current Assignee Address: 〒1076325 東京都港区赤坂五丁目3番1号 Tokyo JP
- Agency: 渡邊 和浩
- Priority: JP2010-064080 20100319
- Main IPC: H01L21/316
- IPC: H01L21/316 ; H01L21/31
Abstract:
処理容器1内を排気装置24により減圧排気しながら、ガス供給装置18の不活性ガス供給源19aおよびオゾン含有ガス供給源19bから、不活性ガスおよびO 2 とO 3 との合計の体積に対するO 3 の体積比率が50%以上であるオゾン含有ガスを所定の流量でガス導入部15を介して処理容器1内に導入する。マイクロ波発生装置39で発生させた所定周波数例えば2.45GHzのマイクロ波を、平面アンテナ31から透過板28を経て処理容器1に放射し、不活性ガスおよびオゾン含有ガスをプラズマ化する。このマイクロ波励起プラズマによりウエハW表面にシリコン酸化膜を形成する。プラズマ酸化処理の間、載置台2に高周波電源44から所定の周波数およびパワーの高周波電力を供給してもよい。
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IPC分类: