Invention Application
WO2011114961A1 シリコン酸化膜の形成方法、及びプラズマ酸化処理装置 审中-公开
硅氧烷膜成型方法和等离子体氧化装置

シリコン酸化膜の形成方法、及びプラズマ酸化処理装置
Abstract:
 処理容器1内を排気装置24により減圧排気しながら、ガス供給装置18の不活性ガス供給源19aおよびオゾン含有ガス供給源19bから、不活性ガスおよびO 2 とO 3 との合計の体積に対するO 3 の体積比率が50%以上であるオゾン含有ガスを所定の流量でガス導入部15を介して処理容器1内に導入する。マイクロ波発生装置39で発生させた所定周波数例えば2.45GHzのマイクロ波を、平面アンテナ31から透過板28を経て処理容器1に放射し、不活性ガスおよびオゾン含有ガスをプラズマ化する。このマイクロ波励起プラズマによりウエハW表面にシリコン酸化膜を形成する。プラズマ酸化処理の間、載置台2に高周波電源44から所定の周波数およびパワーの高周波電力を供給してもよい。
IPC分类:
H 电学
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件(使用半导体器件的测量入G01;一般电阻器入H01C;磁体、电感器、变压器入H01F;一般电容器入H01G;电解型器件入H01G9/00;电池组、蓄电池入H01M;波导管、谐振器或波导型线路入H01P;线路连接器、汇流器入H01R;受激发射器件入H01S;机电谐振器入H03H;扬声器、送话器、留声机拾音器或类似的声机电传感器入H04R;一般电光源入H05B;印刷电路、混合电路、电设备的外壳或结构零部件、电气元件的组件的制造入H05K;在具有特殊应用的电路中使用的半导体器件见应用相关的小类)
H01L21/00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21/04 ..至少具有一个跃变势垒或表面势垒的器件,例如PN结、耗尽层、载体集结层
H01L21/18 ...器件有由周期表Ⅳ族元素或含有/不含有杂质的AⅢBⅤ族化合物构成的半导体,如掺杂材料
H01L21/30 ....用H01L21/20至H01L21/26各组不包含的方法或设备处理半导体材料的(在半导体材料上制作电极的入H01L21/28)
H01L21/31 .....在半导体材料上形成绝缘层的,例如用于掩膜的或应用光刻技术的(密封层入H01L21/56);以及这些层的后处理;这些层的材料的选择
H01L21/314 ......无机层(H01L21/3105,H01L21/32优先)
H01L21/316 .......由氧化物或玻璃状氧化物或以氧化物为基础的玻璃组成的无机层
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