Invention Application
- Patent Title: 電磁開閉装置
- Patent Title (English): Electromagnetic opening/closing device
- Patent Title (中): 电磁开关/闭合装置
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Application No.: PCT/JP2012/056101Application Date: 2012-03-09
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Publication No.: WO2012128075A1Publication Date: 2012-09-27
- Inventor: 小玉 和広 , 岡田 全史
- Applicant: パナソニック株式会社 , 小玉 和広 , 岡田 全史
- Applicant Address: 〒5718501 大阪府門真市大字門真1006番地 Osaka JP
- Assignee: パナソニック株式会社,小玉 和広,岡田 全史
- Current Assignee: パナソニック株式会社,小玉 和広,岡田 全史
- Current Assignee Address: 〒5718501 大阪府門真市大字門真１００６番地 Osaka JP
- Agency: 西川 惠清
- Priority: JP2011-063233 20110322
- Main IPC: H01H50/04
- IPC: H01H50/04 ; H01H47/00
Abstract:
電磁開閉装置は、接点の開閉に伴う変化（開閉回数）を計測する計測部と、計測部が計測する変化（開閉回数）に基づいて接点の状態を判断する寿命判断部と、寿命判断部の判断結果を外部に出力する出力部とを備える。したがって、従来のように電磁開閉装置を搭載する機器が開閉回数をカウントするなどして電磁開閉装置の寿命を管理する必要が無いので、従来に比べて寿命の管理が容易になる。
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