Invention Application
- Patent Title: 飛行時間型質量分析装置
- Patent Title (English): Time-of-flight mass spectrometer
- Patent Title (中): 飞行时间质谱仪
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Application No.: PCT/JP2012/052593Application Date: 2012-02-06
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Publication No.: WO2012132550A1Publication Date: 2012-10-04
- Inventor: 古橋 治 , 谷口 純一
- Applicant: 株式会社島津製作所 , 古橋 治 , 谷口 純一
- Applicant Address: 〒6048511 京都府京都市中京区西ノ京桑原町1番地 Kyoto JP
- Assignee: 株式会社島津製作所,古橋 治,谷口 純一
- Current Assignee: 株式会社島津製作所,古橋 治,谷口 純一
- Current Assignee Address: 〒6048511 京都府京都市中京区西ノ京桑原町1番地 Kyoto JP
- Agency: 特許業務法人京都国際特許事務所
- Priority: JP2011-066999 20110325
- Main IPC: H01J49/40
- IPC: H01J49/40 ; G01N27/62 ; H01J49/06
Abstract:
直交加速部にイオンを送り込むイオン入射光学系として、5個の円筒状電極(31~35)がイオン光軸(C)に沿って配置され、アフォーカル条件の下で形成される2つの仮想凸レンズ(L1、L2)の共通焦点面上にアパーチャ板(38)が配置された静電レンズ(3)を用いる。アパーチャ板(38)に形成された絞り開口(39)の径によって出射イオンビームの角度広がりが決まる。静電レンズ(3)がアフォーカル系となるように印加電圧が設定されると、感度は若干犠牲になるものの高質量分解能の測定が可能となり、イオン通過率が最大である非アフォーカル系となるように印加電圧が設定されると、分解能は若干犠牲になるものの高感度の測定が可能となる。これにより、直交加速方式TOFMSにおいて質量分解能優先モードと測定感度優先モードとを簡単に切替えられる。
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