Invention Application
- Patent Title: ウエハの接合方法及び接合部の構造
- Patent Title (English): Wafer bonding method and structure of bonding part of wafer
- Patent Title (中): WAFER粘结方法和结构的结合部分
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Application No.: PCT/JP2012/074955Application Date: 2012-09-27
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Publication No.: WO2013051463A1Publication Date: 2013-04-11
- Inventor: 藤原 剛史 , 奥野 敏明 , 井上 勝之 , 山本 淳也 , 日沼 健一 , 芦原 義樹 , 宮地 孝明
- Applicant: オムロン株式会社
- Applicant Address: 〒6008530 京都府京都市下京区塩小路通堀川東入南不動堂町801番地 Kyoto JP
- Assignee: オムロン株式会社
- Current Assignee: オムロン株式会社
- Current Assignee Address: 〒6008530 京都府京都市下京区塩小路通堀川東入南不動堂町801番地 Kyoto JP
- Agency: 中野 雅房
- Priority: JP2011-222284 20111006
- Main IPC: H01L23/02
- IPC: H01L23/02 ; H01L21/60 ; H01L25/065 ; H01L25/07 ; H01L25/18
Abstract:
ウエハ1の表面に密着層4を形成し、密着層4の上方にAuSnとの濡れ性の悪い材料からなる拡散防止層7を積層する。さらに、拡散防止層7の縁よりも引っ込めて拡散防止層7の表面に接着層8を形成し、ウエハ1の表面に接合部3を形成する。一方、ウエハ11の下面に接合部13を設け、接合部13の下にAuSnハンダ層19を設ける。ウエハ1とウエハ11とを向かい合わせ、AuSnハンダ層19を溶融させて接合部3と接合部13をAuSnハンダ22によってAuSn共晶接合させる。
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IPC分类: