Invention Application
- Patent Title: 半導体装置及びその製造方法
- Patent Title (English): Semiconductor device and method for manufacturing same
- Patent Title (中): 半导体器件及其制造方法
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Application No.: PCT/JP2014/000855Application Date: 2014-02-19
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Publication No.: WO2014184988A1Publication Date: 2014-11-20
- Inventor: 可部 達也 , 新井 秀幸
- Applicant: パナソニックIPマネジメント株式会社
- Applicant Address: 〒5406207 大阪府大阪市中央区城見2丁目1番61号 Osaka JP
- Assignee: パナソニックIPマネジメント株式会社
- Current Assignee: パナソニックIPマネジメント株式会社
- Current Assignee Address: 〒5406207 大阪府大阪市中央区城見2丁目1番61号 Osaka JP
- Agency: 特許業務法人前田特許事務所
- Priority: JP2013-104276 20130516
- Main IPC: H01L21/822
- IPC: H01L21/822 ; H01L21/02 ; H01L25/065 ; H01L25/07 ; H01L25/18 ; H01L27/00 ; H01L27/04
Abstract:
半導体装置は、第1電極132及び第2電極133を含む第1表面層113を有する第1の基板101と、第3電極142及び第4電極143を含む第2表面層123とを有し、第2表面層123を第1表面層113と接するようにして、第1の基板101と直接接合された第2の基板102と、第2電極133と第4電極143との間に設けられた機能性膜103とを備えている。第1電極132と第3電極142とは互いに接して接合されており、第2電極133、機能性膜103及び第4電極143により受動素子が構成されている。
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IPC分类: