发明申请
WO2015083275A1 軌跡測定装置、数値制御装置および軌跡測定方法 审中-公开
轨迹测量装置,数字控制装置和测量方法

  • 专利标题: 軌跡測定装置、数値制御装置および軌跡測定方法
  • 专利标题(英): Trajectory measurement device, numerical control device, and trajectory measurement method
  • 专利标题(中): 轨迹测量装置,数字控制装置和测量方法
  • 申请号: PCT/JP2013/082742
    申请日: 2013-12-05
  • 公开(公告)号: WO2015083275A1
    公开(公告)日: 2015-06-11
  • 发明人: 長岡 弘太朗藤田 智哉小澤 正啓
  • 申请人: 三菱電機株式会社
  • 申请人地址: 〒1008310 東京都千代田区丸の内二丁目7番3号 Tokyo JP
  • 专利权人: 三菱電機株式会社
  • 当前专利权人: 三菱電機株式会社
  • 当前专利权人地址: 〒1008310 東京都千代田区丸の内二丁目7番3号 Tokyo JP
  • 代理机构: 酒井 宏明
  • 主分类号: G05B19/4062
  • IPC分类号: G05B19/4062
軌跡測定装置、数値制御装置および軌跡測定方法
摘要:
移動対象に対して3軸以上の可動軸を有する機械の移動対象(40)の移動軌跡を測定する軌跡測定装置(10)において、可動軸間の軸間位相差を含む移動対象(40)への指令条件(C1)と、軸間位相差に基づいて生成された可動軸への指令信号(S1)と、指令信号(S1)に可動軸の位置が追従するように可動軸をフィードバック制御した際の可動軸の位置を示すフィードバック信号(S2)と、を用いて、可動軸のうちの2つの可動軸を座標軸とした平面における移動軌跡を、平面ごとに演算する軌跡演算部を、備える。
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