Invention Application
WO2015129623A1 基板処理装置および基板処理方法 审中-公开
基板处理装置和基板处理方法

基板処理装置および基板処理方法
Abstract:
 基板処理装置(1)は、上部開口(222)を有するチャンバ本体(22)と、下部開口(232)を有するチャンバ蓋部(23)と、チャンバ蓋部(23)の蓋内部空間(231)に配置される遮蔽板(51)とを備える。遮蔽板(51)の径方向の大きさは、下部開口(232)の径方向の大きさよりも大きい。チャンバ本体(22)の上部開口(222)がチャンバ蓋部(23)により覆われることにより、基板(9)が内部に収容されるチャンバ(21)が形成される。基板処理装置(1)では、基板(9)が搬入されてチャンバ(21)が形成されるよりも前に、遮蔽板(51)が下部開口(232)に重ねられた状態で、ガス供給部(812)から供給されるガスがチャンバ蓋部(23)の蓋内部空間(231)に充填される。これにより、チャンバ(21)の形成後、チャンバ(21)内に迅速にガスを充満させ、所望の低酸素雰囲気とすることができる。
IPC分类:
H 电学
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件(使用半导体器件的测量入G01;一般电阻器入H01C;磁体、电感器、变压器入H01F;一般电容器入H01G;电解型器件入H01G9/00;电池组、蓄电池入H01M;波导管、谐振器或波导型线路入H01P;线路连接器、汇流器入H01R;受激发射器件入H01S;机电谐振器入H03H;扬声器、送话器、留声机拾音器或类似的声机电传感器入H04R;一般电光源入H05B;印刷电路、混合电路、电设备的外壳或结构零部件、电气元件的组件的制造入H05K;在具有特殊应用的电路中使用的半导体器件见应用相关的小类)
H01L21/00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21/04 ..至少具有一个跃变势垒或表面势垒的器件,例如PN结、耗尽层、载体集结层
H01L21/18 ...器件有由周期表Ⅳ族元素或含有/不含有杂质的AⅢBⅤ族化合物构成的半导体,如掺杂材料
H01L21/30 ....用H01L21/20至H01L21/26各组不包含的方法或设备处理半导体材料的(在半导体材料上制作电极的入H01L21/28)
H01L21/302 .....改变半导体材料的表面物理特性或形状的,例如腐蚀、抛光、切割
H01L21/306 ......化学或电处理,例如电解腐蚀(形成绝缘层的入H01L21/31;绝缘层的后处理入H01L21/3105)
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