Invention Application
WO2016078040A1 相位校准方法和装置
审中-公开
- Patent Title: 相位校准方法和装置
- Patent Title (English): Phase calibration method and apparatus
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Application No.: PCT/CN2014/091673Application Date: 2014-11-19
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Publication No.: WO2016078040A1Publication Date: 2016-05-26
- Inventor: 马骏 , 骆彦行
- Applicant: 华为技术有限公司
- Applicant Address: 中国广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼, Guangdong 518129 CN
- Assignee: 华为技术有限公司
- Current Assignee: 华为技术有限公司
- Current Assignee Address: 中国广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼, Guangdong 518129 CN
- Agency: 北京同立钧成知识产权代理有限公司
- Main IPC: H01Q3/30
- IPC: H01Q3/30 ; H04L27/14
Abstract:
本发明实施例提供一种相位校准方法和装置,其中,该装置包括:第一鉴相器,与所述第一鉴相器连接的移相控制器件;所述第一鉴相器,用于获取N个第一信号,以及将所述N个第一信号与参考信号进行比较,获得所述参考信号与所述N个第一信号中各个第一信号之间的相位差,并输出至所述移相控制器件,所述N为大于或等于2的整数,所述N个第一信号分别为经过N个移相器移相后的信号,所述参考信号的载波频率与所述N个第一信号的载波频率相同;所述移相控制器件,用于根据所述N个相位差一一对应地调整所述N个移相器的移相相位。从而无需反馈通道,也不受信道干扰的影响,提高了获取的各个移相器的初始相位校准值的准确性。
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