Invention Application

相位校准方法和装置
Abstract:
本发明实施例提供一种相位校准方法和装置,其中,该装置包括:第一鉴相器,与所述第一鉴相器连接的移相控制器件;所述第一鉴相器,用于获取N个第一信号,以及将所述N个第一信号与参考信号进行比较,获得所述参考信号与所述N个第一信号中各个第一信号之间的相位差,并输出至所述移相控制器件,所述N为大于或等于2的整数,所述N个第一信号分别为经过N个移相器移相后的信号,所述参考信号的载波频率与所述N个第一信号的载波频率相同;所述移相控制器件,用于根据所述N个相位差一一对应地调整所述N个移相器的移相相位。从而无需反馈通道,也不受信道干扰的影响,提高了获取的各个移相器的初始相位校准值的准确性。
Patent Agency Ranking
0/0