Invention Application
- Patent Title: 高温部観察装置
- Patent Title (English): High-temperature part observation device
- Patent Title (中): 高温部件观察装置
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Application No.: PCT/JP2016/073983Application Date: 2016-08-17
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Publication No.: WO2017030142A1Publication Date: 2017-02-23
- Inventor: 村上 優 , 松岡 孝昭 , 松坂 文夫 , 阿部 大輔
- Applicant: 株式会社IHI
- Applicant Address: 〒1358710 東京都江東区豊洲三丁目1番1号 Tokyo JP
- Assignee: 株式会社IHI
- Current Assignee: 株式会社IHI
- Current Assignee Address: 〒1358710 東京都江東区豊洲三丁目1番1号 Tokyo JP
- Agency: 寺本 光生
- Priority: JP2015-160946 20150818
- Main IPC: G01J5/48
- IPC: G01J5/48 ; B23K9/095 ; B23K9/167 ; G01J5/06 ; G01J5/60
Abstract:
熱源(13)に隣接した観察領域(20)の画像を取得可能なカメラ(7)と、遮光装置(17,31,201,202)とを有する高温部観察装置(1、100,200)であって、遮光装置(17,31,201,202)は熱源(13)の周囲を覆隠す遮光部(18)と、熱源(13)を遮光部(18)から露出させる位置で保持する保持部(21、33、210、211、230)と、保持部(21、33、210、211、230)の係合を解除するアクチュエータ(29,290)とを備え、遮光装置(17,31,201,202)を作動させ、遮光部(18)により熱源(13)が覆隠された直後にカメラ(7)が観察領域(20)の画像を取得する高温部観察装置(1、100,200)。
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