Изобретение может быть использовано для измерения коэффициента отражения нелинейных СВЧ устройств. Технический результат заключается в возможности раздельного анализа СВЧ устройств на частоте основного тона и на частотах высших гармоник сигнала, подаваемого на их вход, за счет возможности частотной селекции отраженных от исследуемых СВЧ устройств сигналов с использованием 6-портовых измерительных рефлектометров. Для измерений используют 6-портовые измерительные рефлектометры. На исследуемое СВЧ устройство подают зондирующий сигнал, частоту которого изменяют в заданном частотном диапазоне. При помощи 6-портового измерительного рефлектометра выделяют 4 комбинации зондирующего и отраженного от исследуемого устройства сигналов, после чего складывают их с опорным сигналом, фаза которого зависит от частоты зондирующего сигнала. Выделяют амплитуды переменных составляющих четырех полученных сумм сигналов, после чего, используя их в качестве информационных сигналов 6-портового рефлектометра, рассчитывают коэффициент отражения от исследуемого устройства в заданном диапазоне частот.