Invention Application
- Patent Title: 프로브 장치 및 그 제어 방법
- Patent Title (English): Probe device and control method therefor
- Patent Title (中): 探测装置及其控制方法
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Application No.: PCT/KR2016/012860Application Date: 2016-11-09
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Publication No.: WO2017082625A1Publication Date: 2017-05-18
- Inventor: 구연우 , 장남석 , 김영환 , 박남주 , 이정수 , 장승호
- Applicant: 삼성전자 주식회사
- Applicant Address: 16677 경기도 수원시 영통구 삼성로 129, Gyeonggi-do KR
- Assignee: 삼성전자 주식회사
- Current Assignee: 삼성전자 주식회사
- Current Assignee Address: 16677 경기도 수원시 영통구 삼성로 129, Gyeonggi-do KR
- Agency: 정홍식
- Priority: KR10-2015-0156525 20151109
- Main IPC: A61B8/00
- IPC: A61B8/00
Abstract:
프로브 장치가 개시된다. 프로브 장치는, 복수의 셀을 포함하며, 복수의 셀 각각에 대응되는 전기 신호를 출력하는 매트릭스 어레이 AFE(Analog Front End), 복수의 셀 각각에서 출력된 전기 신호를 초음파 신호로 변환하는 탐촉자(transducer)부 및 복수의 셀을 적어도 하나의 진단 모드에 대응되는 적어도 하나의 그룹으로 그룹핑하고, 각 그룹에 대응되는 셀에서 해당 진단 모드에 따라 상이한 특성을 갖는 초음파 신호가 탐촉자부를 통해 출력되도록 제어하는 프로세서를 포함한다. 이에 따라, 하나의 프로브 장치를 사용하면서 다양한 기능을 지원할 수 있게 된다.
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