-
公开(公告)号：CN114739321B
公开(公告)日：2023-01-24
申请号：CN202210514853.1
申请日：2022-05-12
Applicant: 中南大学
Abstract: 本申请公开了一种用于光栅精密测量的结构光条纹校正方法，该方法包括：使用相机对投影仪投射的图像进行拍摄，得到相机拍摄图像；获取相机拍摄图像和投影仪烧录图像中的多对对应角点的坐标；根据多对对应角点的坐标求解方程得到位姿转换矩阵；根据位姿转换矩阵对结构光条纹进行位姿矫正；使用相机对投影仪投射到参考面上的空白图案进行拍摄得到空白图案A0；根据空白图案A0的灰度数据，确定结构光条纹的强度在参考面上的衰减程度；根据衰减程度对结构光条纹的强度进行补偿。通过本申请解决了现有技术中的用于光栅精密测量的结构光条纹校正方法所存在的不足，从而提高了光栅精密测量系统的精度。
-
公开(公告)号：CN114739321A
公开(公告)日：2022-07-12
申请号：CN202210514853.1
申请日：2022-05-12
Applicant: 中南大学
Abstract: 本申请公开了一种用于光栅精密测量的结构光条纹校正方法，该方法包括：使用相机对投影仪投射的图像进行拍摄，得到相机拍摄图像；获取相机拍摄图像和投影仪烧录图像中的多对对应角点的坐标；根据多对对应角点的坐标求解方程得到位姿转换矩阵；根据位姿转换矩阵对结构光条纹进行位姿矫正；使用相机对投影仪投射到参考面上的空白图案进行拍摄得到空白图案A0；根据空白图案A0的灰度数据，确定结构光条纹的强度在参考面上的衰减程度；根据衰减程度对结构光条纹的强度进行补偿。通过本申请解决了现有技术中的用于光栅精密测量的结构光条纹校正方法所存在的不足，从而提高了光栅精密测量系统的精度。
-
Search Results
2
records
(took 0.036 seconds)
