公开(公告)号：CN115900598A

公开(公告)日：2023-04-04

申请号：CN202310010200.4

申请日：2023-01-04

申请人： 中国科学院空天信息创新研究院

发明人： 郭广妍 ,  赵鹏 ,  麻云凤 ,  程旺 ,  曹灿 ,  杨学博 ,  白芳 ,  廖利芬 ,  殷晨轩 ,  周家玮 ,  周雅宋 ,  钟涛 ,  吕玮智 ,  樊仲维

IPC分类号： G01B11/26

摘要： 本公开提供了一种电光晶体通光面法线与晶体光轴的夹角测量装置，包括：激光器(1)，用于产生测试光束；光整形模块，用于将测试光束整形和扩束；锥光干涉模块，用于调整整形和扩束后的测试光束的偏振度，并将测试光束调整为锥形光束，作用于被测电光晶体上；样品姿态调整组件(8)，用于设置被测电光晶体，在三维空间内调整被测电光晶体的转动角度；准直成像模块，用于聚焦经过被测电光晶体后出射的测试光束；第一探测模块(11)，用于接收经过被测电光晶体后出射的测试光束，得到其光轴出露点；测量计算模块，计算被测电光晶体通光面法线与晶体光轴的夹角。

公开(公告)号：CN114486813B

公开(公告)日：2023-08-04

申请号：CN202111660364.9

申请日：2021-12-31

申请人： 中国科学院空天信息创新研究院

发明人： 白芳 ,  麻云凤 ,  程旺 ,  曹灿 ,  殷晨轩 ,  周家玮 ,  杨学博 ,  郭广妍 ,  赵鹏

IPC分类号： G01N21/49 ,  G01N21/21

摘要： 本发明提出的一种不同偏振态激光损伤阈值测试的装置与方法，通过设置λ/2波片和偏振分光棱镜组成作用激光的衰减调节单元，λ/2波片和偏振分光棱镜组成激光偏振分光单元，可实现在相同测试条件下，测试s线偏振光和p线偏振光对同一元器件的损伤阈值；通过在第二偏振分光棱镜的反射光路和透射光路中设置切入和切出的λ/4波片，可实现在相同测试条件下，测试圆偏振光和椭圆偏振光对同一元器件的损伤阈值，还可测试圆偏振光和椭圆偏振光对同一元器件的损伤阈值，或者测试线偏振光和任意偏振光对同一元器件的损伤阈值；本装置为了提高散射探测灵敏度，采用线偏振光散射探测法测试样品损伤情况，同时可以测试线偏正光散射后偏振特性是否发生变化。

公开(公告)号：CN114486813A

公开(公告)日：2022-05-13

申请号：CN202111660364.9

申请日：2021-12-31

申请人： 中国科学院空天信息创新研究院

发明人： 白芳 ,  麻云凤 ,  程旺 ,  曹灿 ,  殷晨轩 ,  周家玮 ,  杨学博 ,  郭广妍 ,  赵鹏

IPC分类号： G01N21/49 ,  G01N21/21

摘要： 本发明提出的一种不同偏振态激光损伤阈值测试的装置与方法，通过设置λ/2波片和偏振分光棱镜组成作用激光的衰减调节单元，λ/2波片和偏振分光棱镜组成激光偏振分光单元，可实现在相同测试条件下，测试s线偏振光和p线偏振光对同一元器件的损伤阈值；通过在第二偏振分光棱镜的反射光路和透射光路中设置切入和切出的λ/4波片，可实现在相同测试条件下，测试圆偏振光和椭圆偏振光对同一元器件的损伤阈值，还可测试圆偏振光和椭圆偏振光对同一元器件的损伤阈值，或者测试线偏振光和任意偏振光对同一元器件的损伤阈值；本装置为了提高散射探测灵敏度，采用线偏振光散射探测法测试样品损伤情况，同时可以测试线偏正光散射后偏振特性是否发生变化。