天线测试装置及天线测试系统
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117368587A

    公开(公告)日:2024-01-09

    申请号:CN202311606506.2

    申请日:2023-11-28

    IPC分类号: G01R29/10 G01R1/04

    摘要: 本公开实施例公开一种天线测试装置及天线测试系统,涉及但不限于天线测试技术。天线测试装置包括本体机构、收容于测试空间的接收探头、固定机构、驱动组件及位移机构。固定机构能够对天线进行固定,以保证天线测试过程中天线的位置精度,保证测试结果的准确性。位移机构的设置使得接收探头能够相对天线移动,以对天线进行扫描,以在各个测试位置处采集天线辐射的射频信号。驱动组件的设置使得接收探头能够绕驱动组件旋转,使得接收探头能够在各个测试位置处均能正对于射频信号的传播方向,提升对射频信号的采集精度,以便于对天线多个方向上的性能进行测试,从而避免人工对天线和接收探头的位置进行改变,减少了对人力的消耗。

    一种移相器的测试装置和测试方法

    公开(公告)号:CN116794439A

    公开(公告)日:2023-09-22

    申请号:CN202311027128.2

    申请日:2023-08-15

    IPC分类号: G01R31/00 G01R19/22

    摘要: 本公开提供一种移相器的测试装置和测试方法,移相器包括多个移相单元,测试装置包括上位机、波控板和驱动芯片,波控板包括第一处理模块和第二处理模块;第一处理模块被配置为,响应于上位机的第一信号,根据电磁波的目标参数信息,确定每个移相单元的目标电压信息;并根据目标电压信息生成相应的驱动信号;驱动芯片被配置为,根据驱动信号为相应的移相单元提供驱动电压;第二处理模块被配置为,获取每个所述移相单元的实际工作电压信息,并响应于所述上位机的第二信号,将所述实际工作电压信息以及所述目标电压信息发送至所述上位机;上位机被配置为,根据每个移相单元的实际工作电压信息和目标电压信息,判断移相器是否出现异常。