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公开(公告)号:CN111964785A
公开(公告)日:2020-11-20
申请号:CN202010694432.2
申请日:2020-07-17
申请人: 北京控制工程研究所
摘要: 本发明公开了一种预估红外探测器真空筛选试验合格率的方法,包括:对样本数据进行采集,整理得到特征量;根据整理得到的特征量,建立Logistic回归模型;采样交叉验证法,对Logistic回归模型进行训练,得到训练后的Logistic回归模型;根据训练后的Logistic回归模型,对待预测红外探测器进行失效预测;根据待预测红外探测器的失效预测的结果,对预测结果为合格的待预测红外探测器,按照失效预测概率进行排序,并输出结果。通过本发明能够在试验前对探测器合格情况进行预测,优先选择性能较好且稳定的子样进行试验,避免失效率高的器件混入正样,提高了筛选的有效性、降低了成本。