一种红外涂层的损伤检测方法及系统

    公开(公告)号:CN114113219B

    公开(公告)日:2023-11-17

    申请号:CN202111471245.9

    申请日:2021-12-03

    IPC分类号: G01N25/72 G01N21/3563

    摘要: 本发明涉及一种红外涂层的损伤检测方法及系统,属于涂层损伤检测技术领域,解决了现有技术中涂层损伤检测方法检测准确率差、效率较低的问题。方法包括:采集待测红外涂层的全波段辐射亮度图、两个不同波段的辐射亮度图以及黑体辐射亮度图;根据所述两个不同波段的辐射亮度图,得到待测红外涂层的温度分布图;根据所述温度分布图校正所述黑体辐射亮度图,得到校正后的黑体辐射亮度图;根据所述全波段辐射亮度图和校正后的黑体辐射亮度图,得到待测红外涂层的发射率分布图;基于所述温度分布图和发射率分布图,对待测红外涂层的损伤进行检测。本发明实现了对待测红外涂层损伤的检测,提高了损伤检测准确率和效率。

    一种共面电容传感器及缺陷检测方法

    公开(公告)号:CN116735671A

    公开(公告)日:2023-09-12

    申请号:CN202310497063.1

    申请日:2023-05-05

    IPC分类号: G01N27/22 G01N27/24

    摘要: 本发明涉及一种共面电容传感器及缺陷检测方法,属于共面电容传感器技术领域,解决了现有技术中同一共面电容传感器无法对不同深度的缺陷进行检测的技术问题。本发明的共面电容传感器包括:设置在同一平面上的两组电极组件,两组电极组件沿第一方向相对设置;每组电极组件包括至少两个电极板,每组电极组件的电极板沿第二方向间隔排列,第二方向与第一方向相互垂直,其中,每个电极板均可以独立接通,以作为接收电极或激励电极。实现了同一共面电容传感器检测不同深度的缺陷信息,无需更换传感器,能够减少人为测量误差,提高检测效率和精测精度,降低设备成本,同时有利于提高共面电容传感器的信号传输的稳定性和质量。

    一种轻量化翼舵超声C扫描检测调平系统及检测方法

    公开(公告)号:CN116026929A

    公开(公告)日:2023-04-28

    申请号:CN202211736661.1

    申请日:2022-12-31

    IPC分类号: G01N29/06 G01N29/22 B64F5/60

    摘要: 本发明涉及一种轻量化翼舵超声C扫描检测调平系统及检测方法,涉及无损检测技术领域,解决了现有技术采用人工反复调平,导致检测效率低的问题。该调平系统包括用于使翼舵的待检测平面与基准面保持平行的调平装置;所述调平装置包括框架和支撑块;所述框架用于支撑待检翼舵,所述支撑块设于所述框架的底部,起到支撑框架,以使框架保持稳定的作用;所述框架的顶面上设有用于放置待检翼舵上的卡头的卡槽。

    一种发射率测量装置的校准方法
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114184569A

    公开(公告)日:2022-03-15

    申请号:CN202111474386.6

    申请日:2021-12-03

    IPC分类号: G01N21/3563

    摘要: 本发明涉及一种发射率测量装置的校准方法,属于红外测试领域,解决了现有发射率测量装置校准成本高的问题。校准方法包括:根据需要得到的标准氧化膜的发射率E理论,计算得到标准氧化膜的厚度d;根据氧化膜的厚度d确定电解液的质量浓度c;以质量浓度c的电解液对作为阳极的铝片进行电化学氧化,在铝片表面制备得到标准氧化膜;采用傅里叶红外光谱发射率测量装置检测制备得到的标准氧化膜的发射率E测,E测作为标准发射率;用发射率测量装置测量采用步骤1至步骤3的方法制备得到的一系列已知标准发射率的标准氧化膜,通过测得的数值与标准发射率进行比较,以校准发射率测量装置。本发明的方法能够快速进行发射率测量装置的校准。

    红外辐射遮挡装置及基于该装置的红外探测器标定方法

    公开(公告)号:CN114184567A

    公开(公告)日:2022-03-15

    申请号:CN202111474422.9

    申请日:2021-12-03

    摘要: 本发明涉及一种红外辐射遮挡装置以及基于该装置的红外探测器标定方法,属于红外测试技术领域,解决了现有标定方法标定精度低的问题。该装置包括:空心圆盘、支撑架、步进电机、电机轴、叶片组、转动轴、套管;支撑架底部与空心圆盘底部固连,支撑架内部为空心结构,上部开有通孔,转动轴末端穿过所述通孔到达支撑架空心结构中,电机轴上端穿过支撑架空心结构与转动轴末端通过齿轮咬合;转动轴外侧设有套管,套管与支撑架固连;叶片组由多个相同结构的叶片组成,最前端叶片与转动轴固连,最末端叶片与支撑架固连,其余叶片套接在套管上,相邻叶片之间还设置有相互配合的凸起结构,用于实现叶片联动,以实现不同面积的遮挡面。

    一种基于图像识别的积分球光路校准方法

    公开(公告)号:CN114112025B

    公开(公告)日:2023-11-10

    申请号:CN202111471039.8

    申请日:2021-12-03

    IPC分类号: G01J1/04

    摘要: 本发明涉及一种基于图像识别的积分球光路校准方法,属于积分球光学设备技术领域,解决了其积分球内部机械动作部件由于存在各种误差,导致配合精度降低,进而导致积分球组件光路发生变化的问题。本发明的校准方法包括:步骤S1:对所述拍摄部分和积分球组件进行位置固定;步骤S2:所述拍摄部分对所述目标组件进行拍摄,并通过图像处理软件识别所述目标组件的投影面积;步骤S3:通过运动机构调节目标组件的位置,重复所述步骤S2直至所述目标组件归位。本发明实现了对积分球内部目标组件的位置判定和校准,保障积分球的使用精度。

    目标同面阵列电容传感器的信号质量评估方法及系统

    公开(公告)号:CN116299123A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202310217574.3

    申请日:2023-03-08

    IPC分类号: G01R35/00 G01N27/22

    摘要: 本发明涉及一种同面阵列电容传感器的信号质量评估方法及系统,属于同面阵列电容探测技术领域,解决了现有技术中同面阵列电容传感器的输出信号质量无法有效评估的问题。本发明的同面阵列电容传感器的信号质量评估方法,包括如下步骤:根据电容测量仪器的最小可检测值和目标同面阵列电容传感器的阵列输出信号确定目标同面阵列电容传感器中的有效电极对的数量和无效电极对的数量;根据有效电极对的数量和无效电极对的数量计算目标同面阵列电容传感器的电极利用率;根据电极利用率评估目标同面阵列电容传感器的阵列输出信号的质量。本发明中将电极利用率作为评价指标,实现了对目标同面阵列电容传感器的阵列输出信号质量的有效评估。