单光子发射断层成像设备质控标定方法及系统

    公开(公告)号:CN107390253B

    公开(公告)日:2019-04-30

    申请号:CN201710587459.X

    申请日:2017-07-18

    IPC分类号: G01T1/164 G01T7/00

    摘要: 本发明公开了一种单光子发射断层成像设备质控标定方法及系统,包括:将注入目标核素的均匀面源模型放置于带准直器的单光子发射断层成像设备探头前表面处;采集各独立通道的输出数字化信号幅度以及时间信息的原始数据;根据与参考基准比较的方法获得增益预校正系数,并对各通道的输出原始数据进行校正;按需求采集相应数据完成对探测器增益校正、能量校正标定操作;同时在不增加放射源种类的基础上,通过引入准直器或探测器组成材料的一种或多种的特征能量峰,以实现探头能量分辨率和刻度系数质控标定。本发明设备探头摆位无需处于特殊标定模式,无特殊空间要求,并为远程设备故障诊断提供技术支持。

    单光子发射断层成像设备质控标定方法及系统

    公开(公告)号:CN107390253A

    公开(公告)日:2017-11-24

    申请号:CN201710587459.X

    申请日:2017-07-18

    IPC分类号: G01T1/164 G01T7/00

    CPC分类号: G01T1/1642 G01T7/005

    摘要: 本发明公开了一种单光子发射断层成像设备质控标定方法及系统,包括:将注入目标核素的均匀面源模型放置于带准直器的单光子发射断层成像设备探头前表面处;采集各独立通道的输出数字化信号幅度以及时间信息的原始数据;根据与参考基准比较的方法获得增益预校正系数,并对各通道的输出原始数据进行校正;按需求采集相应数据完成对探测器增益校正、能量校正标定操作;同时在不增加放射源种类的基础上,通过引入准直器或探测器组成材料的一种或多种的特征能量峰,以实现探头能量分辨率和刻度系数质控标定。本发明设备探头摆位无需处于特殊标定模式,无特殊空间要求,并为远程设备故障诊断提供技术支持。