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公开(公告)号：CN107345893A
公开(公告)日：2017-11-14
申请号：CN201710607284.4
申请日：2017-07-24
申请人： 哈尔滨工业大学
摘要： 一种粒子散射相函数测量装置及测量方法，本发明涉及粒子散射相函数测量装置及测量方法。本发明的目的是为了解决现有方法将探测器放置在透明容器外部时玻璃容器表面反射及内部界面多重反射的影响引起的测量误差大以及现有测量方法不能在悬浮颗粒样品量少的条件下准确获得其散射相函数的问题。过程为：一、实验测量盛装在透明圆形比色皿中的标准粒子系在不同散射角下的散射光强分布；二、得到不同散射角下标准粒子系散射相函数的修正系数；三、实验测量待测粒子系的散射光强分布，利用得到的标准粒子系散射相函数的修正系数去修正待测粒子系的散射光强分布，得到待测粒子系的散射相函数。本发明用于粒子散射相函数测量。
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公开(公告)号：CN104614324A
公开(公告)日：2015-05-13
申请号：CN201510096252.3
申请日：2015-03-04
申请人： 哈尔滨工业大学
IPC分类号： G01N21/25
摘要： 一种微藻培养基光学常数及微藻光谱衰减系数的联合测量方法，本发明涉及培养基光学常数及光谱衰减系数的联合测量方法。本发明是要解决现有方法测量时不能准确消除玻璃和界面产生的多次反射的影响以及忽略了比色皿玻璃的影响，产生较大偏差的问题而提出的一种微藻培养基光学常数及微藻光谱衰减系数的联合测量方法。该方法是通过步骤一、建立了三层介质光线传输模型；步骤二、选择获得有效透射数据的微藻和培养基比色皿容器；步骤三、计算出培养基的光学常数；步骤四、得到微藻的衰减系数βp等步骤实现的。本发明应用于培养基光学常数及光谱衰减系数的联合测量方法。
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公开(公告)号：CN107345893B
公开(公告)日：2020-07-07
申请号：CN201710607284.4
申请日：2017-07-24
申请人： 哈尔滨工业大学
摘要： 一种粒子散射相函数测量装置及测量方法，本发明涉及粒子散射相函数测量装置及测量方法。本发明的目的是为了解决现有方法将探测器放置在透明容器外部时玻璃容器表面反射及内部界面多重反射的影响引起的测量误差大以及现有测量方法不能在悬浮颗粒样品量少的条件下准确获得其散射相函数的问题。过程为：一、实验测量盛装在透明圆形比色皿中的标准粒子系在不同散射角下的散射光强分布；二、得到不同散射角下标准粒子系散射相函数的修正系数；三、实验测量待测粒子系的散射光强分布，利用得到的标准粒子系散射相函数的修正系数去修正待测粒子系的散射光强分布，得到待测粒子系的散射相函数。本发明用于粒子散射相函数测量。
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公开(公告)号：CN104614324B
公开(公告)日：2017-08-25
申请号：CN201510096252.3
申请日：2015-03-04
申请人： 哈尔滨工业大学
IPC分类号： G01N21/25
摘要： 一种微藻培养基光学常数及微藻光谱衰减系数的联合测量方法，本发明涉及培养基光学常数及光谱衰减系数的联合测量方法。本发明是要解决现有方法测量时不能准确消除玻璃和界面产生的多次反射的影响以及忽略了比色皿玻璃的影响，产生较大偏差的问题而提出的一种微藻培养基光学常数及微藻光谱衰减系数的联合测量方法。该方法是通过步骤一、建立了三层介质光线传输模型；步骤二、选择获得有效透射数据的微藻和培养基比色皿容器；步骤三、计算出培养基的光学常数；步骤四、得到微藻的衰减系数βp等步骤实现的。本发明应用于培养基光学常数及光谱衰减系数的联合测量方法。
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