公开(公告)号：CN108489937A

公开(公告)日：2018-09-04

申请号：CN201810275164.3

申请日：2018-03-30

申请人： 哈尔滨工业大学

发明人： 帅永 ,  田思哲 ,  郭延铭 ,  谈和平

IPC分类号： G01N21/47

摘要： 本发明提出了一种固体材料双向反射分布函数测量装置，属于材料辐射特性测量技术领域。所述装置包括样品座、测量孔、光纤匹配套管、分路反射探测光纤束、激光器控制台、光功率计、光纤、紧定螺钉、球形罩壳、升降螺栓和电脑。所述固体材料双向反射分布函数测量装置具有结构简单、操作方便等特点。

公开(公告)号：CN109521039A

公开(公告)日：2019-03-26

申请号：CN201811391117.1

申请日：2018-11-21

申请人： 哈尔滨工业大学

发明人： 帅永 ,  郭延铭 ,  田思哲

IPC分类号： G01N25/00

摘要： 本发明是固体材料高温发射率测量的样片加热器的真空装置及方法。该装置包括真空箱体(1)、真空泵(2)、高透过滤窗片(3)、数显压力表(4)、真空阀(5)和回气阀(6),真空泵(2)通过管道与真空箱体(1)连接。将安装好的样片加热器放置于真空箱体(1)内部进行真空；待到数显压力表(4)显示压强达到1Pa后，停止真空；由傅里叶变换红外光谱仪采集样片发出透过高透过滤窗片(3)后的辐射信号，完成数据测量。通过改变高透过滤窗片(3)的材料测量不同波段的数据，测量范围广泛。本发明解决了现有测量装置在测量过程中样片氧化的问题，使得测量结果精准，占用空间体积小，防氧化效果好，测量成本低。