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公开(公告)号：CN110297207A
公开(公告)日：2019-10-01
申请号：CN201910612533.8
申请日：2019-07-08
IPC分类号： G01R35/04
摘要： 本发明提供了一种智能电表的故障诊断方法、系统及电子装置，其中，该方法包括：获取智能电表的测试数据；对测试数据进行预处理，得到测试数据的预处理结果；对预处理结果进行联机分析处理，得到测试数据对应的联机分析处理结果；将联机分析处理结果输入至预先完成训练的故障诊断模型中，输出智能电表的故障诊断结果；故障诊断模型通过机器学习模型训练得到。该方法通过机器学习算法实现电表故障案例数据的综合分析，形成完整性和鲁棒性高的相关识别模型，提升了智能电表故障诊断中的准确率。
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公开(公告)号：CN113299355B
公开(公告)日：2024-05-24
申请号：CN202110494242.0
申请日：2021-05-07
摘要： 本发明公开了一种高频基板的可靠性评估方法，包括以下步骤：对未经湿热老化处理的高频基板样品和经不同程度湿热老化处理的高频基板样品进行烘干处理后进行电性能参数测试、化学结构分析、热分析及显微组织分析，得到电性能参数信息、化学结构信息、热力学特性信息及显微结构信息；分析未经湿热老化处理、经不同程度湿热老化处理的高频基板样品的电性能参数、化学结构、热力学特性、显微结构的演变趋势；建立未经湿热老化处理、经不同程度湿热老化处理的高频基板样品的电性能参数、化学结构、热力学特性、显微结构之间的关联关系。本发明能够全方位表征高频基板在湿热老化过程中的退化特性及演变规律，为产品设计提供全面参考。
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公开(公告)号：CN113611853B
公开(公告)日：2023-02-03
申请号：CN202110531898.5
申请日：2021-05-17
IPC分类号： H01M4/58 , B82Y30/00 , C01G23/00 , H01M4/62 , H01M10/054
摘要： 二维钛基纳米材料及其制备方法与其储镁应用，本发明提供了一种二维纳米材料，所述二维纳米材料由钛酸钠组成，晶面间距为0.85nm。这独特的形貌能够充分暴露钛酸钠材料的活性晶面，缩短镁离子传输路径，加强材料的离子导电性，从而提高其电化学动力学性能；同时，该二维纳米材料应用于电极材料时能够通过贯穿的钛酸钠和金属钛界面进行电子传输，提高材料的电子传输效率，进而增强整个电极的电子导电性。此外，该二维纳米材料还表现出优异的储镁性能。
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公开(公告)号：CN115479883A
公开(公告)日：2022-12-16
申请号：CN202210946096.5
申请日：2022-08-08
摘要： 本申请涉及一种材料寿命确定方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法应用于5G天线高分子材料，包括获取在属于相同环境应力的不同环境参数下，分别对多组目标材料进行老化试验而得到的与目标材料的多个关键特征分别对应的老化试验时间；基于与目标材料的多个关键特征分别对应的老化试验时间，从多个关键特征中确定目标材料的敏感特征；将每组环境参数下敏感特征所对应的老化试验时间，作为目标材料的材料寿命，得到与各环境参数分别对应的材料寿命；将各环境参数、以及各环境参数分别对应的材料寿命，输入与环境应力对应的寿命加速模型，得到材料寿命与环境应力的对应关系。采用本方法能够评估在实际使用环境下的5G天线高分子材料的寿命。
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公开(公告)号：CN115424683A
公开(公告)日：2022-12-02
申请号：CN202210946082.3
申请日：2022-08-08
IPC分类号： G16C60/00 , G06F30/20 , G06F119/04 , G06F119/14
摘要： 本申请涉及一种材料寿命确定方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法应用于LCP高分子材料，包括获取属于相同环境应力的多个不同的环境参数；在通过各组试验参数分别对目标材料在流延方向、垂直方向上进行老化试验时，获得目标材料的多个关键特征的第一老化试验时间、第二老化试验时间；对于每个环境参数，基于各关键特征分别对应的第一老化试验时间和第二老化试验时间，确定在相应环境参数下目标材料的材料寿命；将各环境参数、以及各环境参数分别对应的材料寿命，输入与环境应力对应的寿命加速模型，得到材料寿命与环境应力的对应关系。采用本方法能够评估在实际使用环境下的LCP高分子材料的寿命。
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公开(公告)号：CN113299355A
公开(公告)日：2021-08-24
申请号：CN202110494242.0
申请日：2021-05-07
摘要： 本发明公开了一种高频基板的可靠性评估方法，包括以下步骤：对未经湿热老化处理的高频基板样品和经不同程度湿热老化处理的高频基板样品进行烘干处理后进行电性能参数测试、化学结构分析、热分析及显微组织分析，得到电性能参数信息、化学结构信息、热力学特性信息及显微结构信息；分析未经湿热老化处理、经不同程度湿热老化处理的高频基板样品的电性能参数、化学结构、热力学特性、显微结构的演变趋势；建立未经湿热老化处理、经不同程度湿热老化处理的高频基板样品的电性能参数、化学结构、热力学特性、显微结构之间的关联关系。本发明能够全方位表征高频基板在湿热老化过程中的退化特性及演变规律，为产品设计提供全面参考。
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公开(公告)号：CN111721642A
公开(公告)日：2020-09-29
申请号：CN202010573417.2
申请日：2020-06-22
摘要： 本发明涉及可靠性试验技术领域，公开了一种温度加速度试验系统，包括温度试验箱，用于模拟加速度元器件的环境温度应力；所述温度试验箱包括电连接器，所述电连接器与所述加速度元器件连接，用于使所述加速度元器件处于带电工作状态；加速度试验台，与所述温度试验箱连接，用于模拟所述加速度元器件的环境加速度应力。通过温度试验箱与加速度试验台来同时对加速度元器件进行环境温度应力和环境加速度应力的模拟，试验系统安装有电连接器，可以与试验箱内的所述加速度元器件连接，使其实现带电工作，模拟样品在真实工作状态时，遭受环境温度应力和环境加速度应力后的电信号数据。本系统适用于进行元器件的设计定型、故障激发、可靠性增长等试验。
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公开(公告)号：CN117129457A
公开(公告)日：2023-11-28
申请号：CN202311111029.2
申请日：2023-08-31
IPC分类号： G01N21/64
摘要： 本发明涉及一种高分子聚合物材料老化的荧光检测方法，包括如下步骤，首先配制含有荧光探针分子的探针分子溶液；其次使用探针分子溶液对待测材料进行原位荧光标记；最后原位观察并判断待测材料的老化程度。本申请的荧光检测方法通过在疑似老化的待测材料上原位进行荧光标记，基于经验通过肉眼或放大镜观察即可判断待测材料是否老化以及老化的程度；优选的，还可以基于探照灯对荧光染色处测定荧光强度，从而更确切的判断待测材料的老化程度。相较于传统的待测材料老化的荧光检测方法，避免了取样步骤对待检测产品造成的破坏、准确度高、简单易操作，适合广泛推广使用。
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公开(公告)号：CN116451093A
公开(公告)日：2023-07-18
申请号：CN202310541792.2
申请日：2023-05-12
IPC分类号： G06F18/22 , G06F18/24 , G06F18/214 , G06F18/20 , G06N3/006 , G06N3/045 , G06N3/0464 , G06N3/0442
摘要： 本申请涉及一种电路故障分析模型的训练方法以及电路故障分析方法。其中，训练方法包括获取待训练的电路故障分析模型、以及电路故障的训练数据，训练数据包括样本数据以及样本标签；将样本数据输入至待训练的电路故障分析模型，通过电路故障分析模型对样本数据进行特征突出处理，得到故障特征；通过电路故障分析模型对故障特征进行时序特征提取，将时序特征提取得到的特征数据进行分类预测；将分类预测结果与样本标签进行相似度对比；更新待训练的电路故障分析模型的模型参数直至相似度对比结果不大于预设误差，得到已训练的电路故障分析模型。方法提升了电路故障分析模型的适用性，也提升了电路模型故障分析结果的准确性和可靠性。
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公开(公告)号：CN114323818A
公开(公告)日：2022-04-12
申请号：CN202111363334.1
申请日：2021-11-17
摘要： 本发明涉及一种陶瓷气密封元器件内部气氛取样方法及应用。包括以下步骤：获取待测陶瓷气密封元器件，所述待测陶瓷气密封元器件的封装壳的表面设有检测区域；对所述检测区域进行磨削，使磨削后的所述检测区域的封装壳的厚度值为0.04mm～0.06mm；对磨削后的所述检测区域进行清洗；于清洗后的所述检测区域进行穿刺取样。通过将待测陶瓷气密封元器件的封装壳磨削至特定的厚度值，能够易于进行穿刺取样且穿刺时非检测区域的封装壳不碎裂和漏气，保证了后续取样的可靠性，相较于传统陶瓷气密封元器件内部气氛取样方法操作简便，并且不受尺寸的限制，应用范围广。
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