位移计
    1.
    发明公开
    位移计 审中-实审

    公开(公告)号:CN115597495A

    公开(公告)日:2023-01-13

    申请号:CN202211157329.X

    申请日:2022-09-22

    IPC分类号: G01B11/02

    摘要: 本发明公开了一种位移计,涉及测量仪器技术领域,主要目的是提高缝隙宽度变化测量的精度。本发明的主要技术方案为:位移计,其包括:壳体、增敏部和微波检测机构;所述增敏部包括弹片、膜片和探杆,所述膜片的边缘固定连接于所述壳体的中部内侧面,所述弹片的一端固定连接于所述壳体的一端,另一端固定连接于膜片的中心,所述探杆的一端连接于所述膜片的中心,另一端伸出所述壳体;所述微波检测机构安装于所述壳体的一端侧壁,用于对应所述弹片的中心区域。