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公开(公告)号:CN103532646B
公开(公告)日:2017-02-22
申请号:CN201310476241.9
申请日:2013-10-12
Applicant: 工业和信息化部电信传输研究所
IPC: H04B17/00
Abstract: 本发明公开了一种适用于LTE系统的基站射频测试系统的测试方法,其中,所述系统连接待测基站,用于测试待测基站的射频数据,所述系统包括:频谱分析仪、信道模拟器、有用信号生成器、干扰信号生成器、宽带信号生成器、功率计、主控计算机及射频箱;其中,所述主控计算机连接所述频谱分析仪、信道模拟器、有用信号生成器、干扰信号生成器、宽带信号生成器、功率计及射频箱;所述射频箱连接所述频谱分析仪、信道模拟器、有用信号生成器、干扰信号生成器、宽带信号生成器、功率计及所述待测基站;所述功率计连接所述宽带信号生成器;其中,所述射频箱包括:开关、负载、单向器、耦合器、衰减器、合路器、多频合路器及射频接口。
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公开(公告)号:CN103532646A
公开(公告)日:2014-01-22
申请号:CN201310476241.9
申请日:2013-10-12
Applicant: 工业和信息化部电信传输研究所
IPC: H04B17/00
Abstract: 本发明公开了一种适用于LTE系统的基站射频测试系统及测试方法,其中,所述系统连接待测基站,用于测试待测基站的射频数据,所述系统包括:频谱分析仪、信道模拟器、有用信号生成器、干扰信号生成器、宽带信号生成器、功率计、主控计算机及射频箱;其中,所述主控计算机连接所述频谱分析仪、信道模拟器、有用信号生成器、干扰信号生成器、宽带信号生成器、功率计及射频箱;所述射频箱连接所述频谱分析仪、信道模拟器、有用信号生成器、干扰信号生成器、宽带信号生成器、功率计及所述待测基站;所述功率计连接所述宽带信号生成器;其中,所述射频箱包括:开关、负载、单向器、耦合器、衰减器、合路器、多频合路器及射频接口。
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公开(公告)号:CN203537404U
公开(公告)日:2014-04-09
申请号:CN201320630130.4
申请日:2013-10-12
Applicant: 工业和信息化部电信传输研究所
IPC: H04B17/00
Abstract: 本实用新型公开了一种适用于LTE系统的基站射频测试系统,其中,所述系统连接待测基站,用于测试待测基站的射频数据,所述系统包括:频谱分析仪、信道模拟器、有用信号生成器、干扰信号生成器、宽带信号生成器、功率计、主控计算机及射频箱;其中,所述主控计算机连接所述频谱分析仪、信道模拟器、有用信号生成器、干扰信号生成器、宽带信号生成器、功率计及射频箱;所述射频箱连接所述频谱分析仪、信道模拟器、有用信号生成器、干扰信号生成器、宽带信号生成器、功率计及所述待测基站;所述功率计连接所述宽带信号生成器;其中,所述射频箱包括:开关、负载、单向器、耦合器、衰减器、合路器、多频合路器及射频接口。
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