一种数据分析方法、系统、介质、及电子设备

    公开(公告)号:CN114996071A

    公开(公告)日:2022-09-02

    申请号:CN202210772980.1

    申请日:2022-06-30

    IPC分类号: G06F11/22

    摘要: 本申请提供了一种数据分析方法、系统、介质及电子设备。该方法包括:获取待分析晶圆的至少一组检测数据;针对任意一组检测数据,根据对应的检测标准,对所述待分析晶圆进行标识,生成所述待分析晶圆的缺陷标识图;对各个缺陷标识图进行叠图操作,生成所述待分析晶圆的综合缺陷图,根据所述综合缺陷图进行针对所述待分析晶圆的数据分析。本申请的技术方案可以使得各工艺段的检测数据得以整合,能够明晰缺陷的演变和工艺问题,为工艺改进和设备监控提供有效的数据支持。