公开(公告)号：CN103096810A

公开(公告)日：2013-05-08

申请号：CN201280002830.7

申请日：2012-07-09

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 楠龟弘一 ,  伊藤达男 ,  堀中博道

IPC: A61B8/00 ,  G01J5/00 ,  G01N29/00

CPC classification number: A61B5/01 ,  A61B5/0075 ,  A61B5/015 ,  A61B5/4244 ,  A61B5/4872 ,  A61B8/08 ,  A61B8/48 ,  G01K11/24

Abstract: 一种对被检体的状态进行分析的分析装置(1)，包括：调温部(1c)，通过对被检体进行冷却，来降低被检体的温度；光源(1a)，通过使光照射到被检体，对由调温部(1c)冷却了的被检体的至少一部分进行加热；第一温度计测部(1b)，计测因光源(1a)的加热而发生的被检体的温度变化；以及分析部(1d)，根据被检体的温度变化，来分析被检体的状态。例如，第一温度计测部(1b)具有超声波探头(102a)，将超声波脉冲发送给被检体，并接收所述超声波脉冲在所述被检体的反射波，根据超声波探头(102a)所接收的反射波的信号，计测被检体的温度。