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公开(公告)号：CN1306484C
公开(公告)日：2007-03-21
申请号：CN200410007003.4
申请日：1999-07-02
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/00 , G11B7/0045 , G11B7/005
CPC classification number: G11B7/126 , G11B7/0037 , G11B7/0045 , G11B7/005 , G11B7/006 , G11B7/0062 , G11B7/007 , G11B7/00736 , G11B7/00745 , G11B7/0945 , G11B7/1267 , G11B19/04 , G11B19/12 , G11B20/10 , G11B20/10009 , G11B20/10046 , G11B20/10481 , G11B27/36
Abstract: 本发明提供一种记录/再现方法，用于在可重写型光学记录介质上记录信息和再现信息，在其上可记录多个记录/再现条件以及厂商信息，所述方法包含：通过检测记录确定用于记录信息和再现信息中的至少一个的记录/再现装置的厂商的最优记录/再现条件，其中将检测记录数据所再现的信号与预定的标准进行比较来确定信号的质量，且根据所确定的质量的好坏来确定最优记录/再现条件；和将最优记录/再现条件记录到可重写型光学记录介质上，其中当在可重写型光学记录介质上记录的记录/再现条件的数目达到预定的数目时，从可重写型光学记录介质删掉最旧的记录/再现条件，将最优记录/再现条件记录到可重写型光学记录介质上。以及提供一种记录/再现装置。
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公开(公告)号：CN1542756A
公开(公告)日：2004-11-03
申请号：CN200410007003.4
申请日：1999-07-02
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/00 , G11B7/0045 , G11B7/005
CPC classification number: G11B7/126 , G11B7/0037 , G11B7/0045 , G11B7/005 , G11B7/006 , G11B7/0062 , G11B7/007 , G11B7/00736 , G11B7/00745 , G11B7/0945 , G11B7/1267 , G11B19/04 , G11B19/12 , G11B20/10 , G11B20/10009 , G11B20/10046 , G11B20/10481 , G11B27/36
Abstract: 一种光学记录介质，其具有一个记录/再现条件记录区，用于记录记录/再现条件和确定使用记录/再现条件的记录/再现装置的记录/再现装置信息。当在记录/再现装置中访问光学记录介质时，使用用于记录/再现装置的记录/再现条件。因此，通过使用针对光学记录介质和记录/再现装置的最优记录/再现装置而进行记录或再现。当第一次使用光学记录介质时，通过使用在光学记录介质中设置的检测记录区而进行检测记录，并记录所获得的记录/再现条件。
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公开(公告)号：CN1146871C
公开(公告)日：2004-04-21
申请号：CN99815802.X
申请日：1999-07-02
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/126 , G11B7/0037 , G11B7/0045 , G11B7/005 , G11B7/006 , G11B7/0062 , G11B7/007 , G11B7/00736 , G11B7/00745 , G11B7/0945 , G11B7/1267 , G11B19/04 , G11B19/12 , G11B20/10 , G11B20/10009 , G11B20/10046 , G11B20/10481 , G11B27/36
Abstract: 一种光学记录介质，其具有一个记录/再现条件记录区，用于记录记录/再现条件和确定使用记录/再现条件的记录/再现装置的记录/再现装置信息。当在记录/再现装置中访问光学记录介质时，使用用于记录/再现装置的记录/再现条件。因此，通过使用针对光学记录介质和记录/再现装置的最优记录/再现装置而进行记录或再现。当第一次使用光学记录介质时，通过使用在光学记录介质中设置的检测记录区而进行检测记录，并记录所获得的记录/再现条件。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1542755A
公开(公告)日：2004-11-03
申请号：CN200410006897.5
申请日：1999-07-02
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/00 , G11B7/0045 , G11B7/005
CPC classification number: G11B7/126 , G11B7/0037 , G11B7/0045 , G11B7/005 , G11B7/006 , G11B7/0062 , G11B7/007 , G11B7/00736 , G11B7/00745 , G11B7/0945 , G11B7/1267 , G11B19/04 , G11B19/12 , G11B20/10 , G11B20/10009 , G11B20/10046 , G11B20/10481 , G11B27/36
Abstract: 一种光学记录介质，其具有一个记录/再现条件记录区，用于记录记录/再现条件和确定使用记录/再现条件的记录/再现装置的记录/再现装置信息。当在记录/再现装置中访问光学记录介质时，使用用于记录/再现装置的记录/再现条件。因此，通过使用针对光学记录介质和记录/再现装置的最优记录/再现装置而进行记录或再现。当第一次使用光学记录介质时，通过使用在光学记录介质中设置的检测记录区而进行检测记录，并记录所获得的记录/再现条件。
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公开(公告)号：CN1269113C
公开(公告)日：2006-08-09
申请号：CN200410006897.5
申请日：1999-07-02
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/00 , G11B7/0045 , G11B7/005
CPC classification number: G11B7/126 , G11B7/0037 , G11B7/0045 , G11B7/005 , G11B7/006 , G11B7/0062 , G11B7/007 , G11B7/00736 , G11B7/00745 , G11B7/0945 , G11B7/1267 , G11B19/04 , G11B19/12 , G11B20/10 , G11B20/10009 , G11B20/10046 , G11B20/10481 , G11B27/36
Abstract: 公开了一种记录/再现方法，用于在可重写型光学记录介质上记录信息和再现信息，在其上可记录多个记录/再现条件以及装置信息，所述记录/再现方法包含：进行检测记录，其中将从检测记录数据再现的信号与预定的标准进行比较以测定信号质量；通过信号质量确定记录/再现装置的最优记录/再现条件，所述最优记录/再现条件被至少用于记录信息和再现信息中的一个；和在所述可重写型光学记录介质上记录所述最优记录/再现条件，其中当在所述光学记录介质上记录的多个记录/再现条件为预定的数目时，从所述的可重写型光学记录介质删除最旧的记录/再现条件，将所述最优记录/再现条件记录到所述可重写型光学记录介质上。
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公开(公告)号：CN1269112C
公开(公告)日：2006-08-09
申请号：CN200410006896.0
申请日：1999-07-02
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/00 , G11B7/0045 , G11B7/005
CPC classification number: G11B7/126 , G11B7/0037 , G11B7/0045 , G11B7/005 , G11B7/006 , G11B7/0062 , G11B7/007 , G11B7/00736 , G11B7/00745 , G11B7/0945 , G11B7/1267 , G11B19/04 , G11B19/12 , G11B20/10 , G11B20/10009 , G11B20/10046 , G11B20/10481 , G11B27/36
Abstract: 公开了一种记录/再现方法，用于在可重写型光学记录介质上记录和再现信息，所述方法包含：进行检测记录，其中将从检测记录数据再现的信号与预定的标准进行比较以测定信号质量；通过信号质量确定记录/再现装置的最优记录/再现条件，所述最优记录/再现条件被至少用于记录信息和再现信息中的一个；和在所述可重写型光学记录介质上记录所述最优记录/再现条件和对应的时间信息，当在所述光学记录介质上记录的多个记录/再现条件和时间信息为预定的数目时，从所述的光学记录介质删除最旧的记录/再现条件和相应的时间信息，将所述最优记录/再现条件和相应的时间信息记录到所述光学记录介质上，以及实施该记录/再现方法的记录/再现装置。
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公开(公告)号：CN1542754A
公开(公告)日：2004-11-03
申请号：CN200410006896.0
申请日：1999-07-02
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/00 , G11B7/0045 , G11B7/005
CPC classification number: G11B7/126 , G11B7/0037 , G11B7/0045 , G11B7/005 , G11B7/006 , G11B7/0062 , G11B7/007 , G11B7/00736 , G11B7/00745 , G11B7/0945 , G11B7/1267 , G11B19/04 , G11B19/12 , G11B20/10 , G11B20/10009 , G11B20/10046 , G11B20/10481 , G11B27/36
Abstract: 一种光学记录介质，其具有一个记录/再现条件记录区，用于记录记录/再现条件和确定使用记录/再现条件的记录/再现装置的记录/再现装置信息。当在记录/再现装置中访问光学记录介质时，使用用于记录/再现装置的记录/再现条件。因此，通过使用针对光学记录介质和记录/再现装置的最优记录/再现装置而进行记录或再现。当第一次使用光学记录介质时，通过使用在光学记录介质中设置的检测记录区而进行检测记录，并记录所获得的记录/再现条件。
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公开(公告)号：CN1359516A
公开(公告)日：2002-07-17
申请号：CN99815802.X
申请日：1999-07-02
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/126 , G11B7/0037 , G11B7/0045 , G11B7/005 , G11B7/006 , G11B7/0062 , G11B7/007 , G11B7/00736 , G11B7/00745 , G11B7/0945 , G11B7/1267 , G11B19/04 , G11B19/12 , G11B20/10 , G11B20/10009 , G11B20/10046 , G11B20/10481 , G11B27/36
Abstract: 一种光学记录介质,其具有一个记录/再现条件记录区,用于记录记录/再现条件和确定使用记录/再现条件的记录/再现装置的记录/再现装置信息。当在记录/再现装置中访问光学记录介质时,使用用于记录/再现装置的记录/再现条件。因此,通过使用针对光学记录介质和记录/再现装置的最优记录/再现装置而进行记录或再现。当第一次使用光学记录介质时,通过使用在光学记录介质中设置的检测记录区而进行检测记录,并记录所获得的记录/再现条件。
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