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发明公开
测光装置以及测光方法审中-实审

公开(公告)号：CN118111672A

公开(公告)日：2024-05-31

申请号：CN202311580776.0

申请日：2023-11-24

Applicant: 柯尼卡美能达株式会社

Inventor： 繁永伸明 , Y·威廉姆斯 , 门胁丰

IPC: G01M11/02

Abstract: 提供一种测光装置以及测光方法，无需准备针对每个开口角设计的光学系统，而能够抑制由于开口角的差异引起的测定值的误差。测光装置(100)具备：聚光单元(110)，由将来自被测定物(200)的光进行聚光而射出光束(302)的远心光学系统构成；以及光圈(120)，配置于聚光单元(110)的后方，并且具有能够变更尺寸的开口部(121)，通过开口部(121)的尺寸变更而使从聚光单元(110)射出的光束(302)受限地通过。

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