基于SiPM的温度补偿方法、装置、设备、存储介质

    公开(公告)号:CN117825348B

    公开(公告)日:2024-05-24

    申请号:CN202410027463.0

    申请日:2024-01-08

    IPC分类号: G01N21/64

    摘要: 本发明提出了一种基于SiPM的温度补偿方法、装置、设备、存储介质,该方法包括:启动检测之前,SiPM元器件处于参考温度时,获取标准物和暗背景的参考值,启动检测后,获取标准物、待测样品和暗背景的检测值;基于暗背景和标准物的参考值和检测值确定补偿系数,基于补偿系数、样品检测值、暗背景参考值和暗背景检测值确定各个待测样品的样品参考值。根据本发明实施例的技术方案,在待测样品测量前后温度发生变化的情况下,利用补偿系数将SiPM元器件在任意工作温度下检测的检测值补偿至参考温度下的样品参考值,消除SiPM元器件的工作温度导致的检测值偏移,无需引入多个温度传感器,降低硬件成本,提高检测设备的工作稳定性。

    固态标准物的荧光值补偿方法、装置、设备、存储介质

    公开(公告)号:CN118794935A

    公开(公告)日:2024-10-18

    申请号:CN202410761119.4

    申请日:2024-06-13

    IPC分类号: G01N21/64 G01N21/01

    摘要: 本发明提出了固态标准物的荧光值补偿方法、装置、设备、存储介质,属于SiPM光学测量领域,该方法包括:在光学检测装置设置第一固态标准物和第二固态标准物,分别在标定温度、参考温度和实际测量阶段进行扫描,通过标定温度和参考温度下测量得到的两个固态标准物的荧光值构建第一映射关系,利用两个固态标准物随温度变化不线性相关的特性,通过第二固态标准物对第一固态标准物进行荧光值补偿,将第一固态标准物在任意温度下的荧光值等效成参考温度下的荧光值,使得固态标准物受温度波动的影响接近液态标准物,提高温度补偿和光学检测的准确性。

    基于SiPM的温度补偿方法、装置、设备、存储介质

    公开(公告)号:CN117825348A

    公开(公告)日:2024-04-05

    申请号:CN202410027463.0

    申请日:2024-01-08

    IPC分类号: G01N21/64

    摘要: 本发明提出了一种基于SiPM的温度补偿方法、装置、设备、存储介质,该方法包括:启动检测之前,SiPM元器件处于参考温度时,获取标准物和暗背景的参考值,启动检测后,获取标准物、待测样品和暗背景的检测值;基于暗背景和标准物的参考值和检测值确定补偿系数,基于补偿系数、样品检测值、暗背景参考值和暗背景检测值确定各个待测样品的样品参考值。根据本发明实施例的技术方案,在待测样品测量前后温度发生变化的情况下,利用补偿系数将SiPM元器件在任意工作温度下检测的检测值补偿至参考温度下的样品参考值,消除SiPM元器件的工作温度导致的检测值偏移,无需引入多个温度传感器,降低硬件成本,提高检测设备的工作稳定性。