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公开(公告)号:CN115791625B
公开(公告)日:2023-05-19
申请号:CN202310043700.8
申请日:2023-01-29
申请人: 米谱科技(常州)有限公司
摘要: 本发明提供一种应用于金属微颗粒物粒度粒形分析的光路系统,涉及金属颗粒物光路测量技术领域,包括镜头组和样品颗粒主体,镜头组表面一端设有图像传感器,镜头组远离图像传感器的一端设有圆偏振镜片,圆偏振镜片侧面连接设有偏振镜片驱动器,圆偏振镜片底端设有分光板,分光板一侧设有前向光源,分光板底面设有载玻板,载玻板表面放置设有样品颗粒主体,载玻板底部设有背向光源,前向光源和背向光源的多模式组合后产生光路,对样品颗粒主体进行照射并通过镜头组和图像传感器进行成像,通过样品颗粒主体的光学特性对样品颗粒主体进行区分,直接确定每一粒颗粒的材质和粒度粒形参数,适配性高,减少试验数据误差,提高实验效率。
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公开(公告)号:CN115791625A
公开(公告)日:2023-03-14
申请号:CN202310043700.8
申请日:2023-01-29
申请人: 米谱科技(常州)有限公司
摘要: 本发明提供一种应用于金属微颗粒物粒度粒形分析的光路系统,涉及金属颗粒物光路测量技术领域,包括镜头组和样品颗粒主体,镜头组表面一端设有图像传感器,镜头组远离图像传感器的一端设有圆偏振镜片,圆偏振镜片侧面连接设有偏振镜片驱动器,圆偏振镜片底端设有分光板,分光板一侧设有前向光源,分光板底面设有载玻板,载玻板表面放置设有样品颗粒主体,载玻板底部设有背向光源,前向光源和背向光源的多模式组合后产生光路,对样品颗粒主体进行照射并通过镜头组和图像传感器进行成像,通过样品颗粒主体的光学特性对样品颗粒主体进行区分,直接确定每一粒颗粒的材质和粒度粒形参数,适配性高,减少试验数据误差,提高实验效率。
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